ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Построение градуировочных графиков для количественного спектрального анализа посредством стилометра из "Визуальные методы эмиссионного спектрального анализа" Количественный спектральны11 анализ основан на зависимости между интенсивностью спектральной линии и концентрацией определяемого элемента в излучающем облаке. При этом предполагается, что концентрация в облаке пропорциональна концентрации в исследуемом образце. Хотя подробности поступления вещества электродов в облако паров еще полностью пе изучены, в практическом спектральном анализе обычно считают, что изменение концентрации искомого элемента в твердом электроде достаточно хорошо передается излучающему облаку и может характеризоваться пзменением интенсивиости спектрально лпнии. [c.202] Таким образом, логарифм интенсивности спектральной линии связан простым линейным соотношением с логарифмом концентрации. Здесь коэффициент Ъ дает угловой наклон прямолинейного графика, выражающего связь между lg/ и lg6 Величина А = ga определяет точку пересечения графика с осью ординат. [c.202] Таким образом, нормальными параметрами, по которым можно построить график для стилометра с нолярнзационным фотометром, будут lg6 и lg 1 а. [c.204] Приводе. пример получения градуировочного графика для определе-Н1[я хрома в сталях. Нулевая установка анализатора фц = 45°, таким образом, а = 45 — ф. В таб.11ицо 63 приведены результаты измерении и аи-иь[о для построения линейного графика, представленного иа рис. 202 [432]. [c.204] что если I очень мало, то формула (6) переходит в (4). [c.207] На примере определения кремния в стали покажем, как следует строить графики с учетом фона [433]. Измерения производились с железным стандартным электродом по линиям 81 6371,3 А—Ре 6400 А. В таблице 65 приведены концентрации и измеренные углы а для четырех эталонов стали. [c.207] Построение градуировочного графика в нормальных параметрах показывает криволинейную концентрационную зависимость (рис. 204), крутизна которой значительно уменьшается в области малых К01щентраций. [c.207] Построения, показанные на рис. 204—20(5, производятся только ири разработке методики, для выполнения аналп за необходимо ио.тз зо-ваться лишь окончательным рабочим графиком илп составленной по не1му таблицей. [c.208] ДЛЯ сплавов различного химического состава. [c.209] Найти к, то есть установить связь менаду отсчетами А1 и логарифмами относительной интенсивности, удобнее всего по мультинлетам с эксперимептально найденными отношениями интенсивностей. [c.209] В спектроскопической литературе имеется много данных по интенсивностям в мультиплетах, расположенных в видимой области спектра [422, 436, 459, 460], и можно получить большое количество экспериментальных точек для зависимости отсчета шкал стилометра от логарифма отношения интенсивностей сиектральных линий. В таблице 66 приведены восемь пар спектральных линий, легко наблюдаемых в образцах наиболее распространенных сплавов. Этих восьми пар линий, по которым можно иметь 16 симметричных точек (если менять уравниваемые линии местами), вполне достаточно, чтобы получить зависимость между А1 и 18 . [c.209] На рис. 209 приведен график, полученны для одного из стилометров по указанным в таблице 66 данным. Экспериментальные точки укладываются на прямую, которая без труда позволяет находить логарифм относительной интенсивности по измеренным А1. Каждый стилометр должен иметь индивидуальную градуировку фотометра. Для ее получения необходимо выбирать образцы с небольшими содержаниями примесей, дающих мультинлеты, чтобы отношения интенсивностей в них не искажались самопоглощением и самообращением. [c.210] На рис. 211 представлен график, который построен после фотометрирования линии кремния в спектрах эталонов пятого комплекта УИМ [428]. По такому графику можно вести анализ, но для более точного воспроизведения его криволинейной части желательно получить больше экспериментальных точек. Без внимательного рассмотрения данных можно даже не заметить тенденцию графика к искривлению и провести прямую линию, указаннуюУна рис. 211 пунктиром. [c.210] Вернуться к основной статье