ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Атомно-силовая и магнитно-силовая микроскопия из "Физико-химия нанокластеров наноструктур и наноматериалов" Подвод зонда на необходимые расстояния к поверхности и сканирование на ней осуществляется так же, как и в СТМ, с помощью пьезокерамического ХУ7-транслятора 6, причем вертикальные перемещения зонда регистрируются либо с помощью оптической системы, при которой лазерный луч отражается от зеркала 4 и попадает на фотодиод 5 (рис. 2.16 а), либо с помощью туннельного зонда 7, смонтированного над пружиной (рис. 2.166)). Работа АСМ возможна в двух режимах. [c.58] Магнитно-силовой микроскоп (МСМ) [9] использует кроме вандерваальсовых сил магнитные дипольные силы. При удалении на 10 -г 50 нм на зонд оказывают влияние практически только магнитные силы. В этом случае отклонение зонда от прямолинейного движения связано именно с магнитным взаимодействием (рис. 2.17). [c.59] Например, для двух кластеров железа диаметром 10 нм (то = т 9-10 А-м ), расположенных на расстоянии 10 нм, значение магнитной силы взаимодействия составляет 4,9 10 Н, а градиент силы — 1,9 10 Н/м. Такие величины и регистрирует МСМ. Чувствительность по магнитному потоку составляет 10 Тл. [c.59] Схема механической системы МСМ показана на рис. 2.18. [c.59] При сканировании поверхности с находящимися на ней частицами необходимо отделить отделить геометрический фактор рельефа от магнитного. Для этого во время сканирования зонд проходит по одному и тому же месту дважды. Первый раз он движется по поверхности образца в контакте ней, при этом запоминается траектория его движения. Второй раз игла проходит по запомненной траектории над тем же участком поверхности, не соприкасаясь с ней. При повторном движении на зонд действуют уже не контактные силы, а дальнодействующие. Отклонение зонда от заранее обусловленной траектории будет определяться магнитными свойствами поверхности (рис. 2.18 в). [c.60] МСМ примеряется для исследования тонких пленок, нанокластеров, нанокомпозитов и наноструктур, магнитных носителей информации, используется при оптимизации магнитной записи. Метод позволяет увидеть отдельные магнитные области и домены с размерами от нескольких единиц до нескольких десятков нанометров. [c.60] Вернуться к основной статье