ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Рентгеновская спектроскопия поглощения из "Физико-химия нанокластеров наноструктур и наноматериалов" В методах рентгеновской спектроскопии поглощения измеряется коэффициент поглощения 1 в зависимости от энергии падающего излучения (1 = ц Е). [c.66] Фурье-представление, которые позволяют оценить характер осцилляций и электронного распределения. [c.67] Методом XANES исследуют электронное строение вещества, определяют симметрию и энергаи вакантных молекулярных (в молекулах) или электронных зон, лежащих выше уровня Ферми в твердом теле. Таким методом можно определить степень окисления поглощающего атома и симметрию его координационной сферы [14]. [c.68] Анализ EXAFS дает более обширную информацию о локальном окружении поглощающего атома, о типе и числе ближайших соседей и межатомных расстояниях в сфере радиусом 5 4- 6 А. [c.68] Спектры EXAFS получают после поглошения рентгеновского излучения тонкой пленкой. Для изучения кластеров и наночастиц применяются различные подложки и носители, особенно содержащие легкие элементы. В этом случае практически все металлические атомы представляются поверхностными и возможно достижение необходимой чувствительности и точности, подобной массивному материалу. Для изучения поверхности монокристаллов этот метод не обладает необходимой чувствительностью и не применяется. Однако при адсорбции тяжелого атома на поверхность кристалла металла удается различить поверхностные состояния металла, например, соединения атомов поверхности Си 111 с адсорбированными атомами I [15]. Необходимо отметить при этом соответствие данных EXAFS результатам ДМЭ. [c.68] Вернуться к основной статье