ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Электронная микроскопия из "Кристаллизация полимеров" Наблюдения за развитием сферолитов при кристаллизации в блоке можно осуществить, фокусируя микроскоп на центр относительно большого участка кристаллизующегося полимера. На рис. 21 приведена микрофотография структуры полиоксиэтилена, иллюстрирующая применение этого метода. [c.63] Для электронно-микроскопических исследований в проходящем пучке электронов используют очень тонкие образцы толщиной приблизительно 10 см, причем измерения производят в вакууме. Это, конечно, несколько ограничивает применение метода для изучения процесса кристаллизации. Однако Холланд и Лин-денмейер провели некоторые измерения скорости роста монокристаллов полимеров, замораживая кристаллизующиеся растворы на различных стадиях роста. [c.63] Исследование объектов большей толщины сопряжено со значительными затруднениями, поэтому структура образцов полимеров, закристаллизованных в блоке, не выяснена окончательно. В этом случае сведения о структуре образца могут быть получены при изучении реплик с его поверхности. Например, Фишером была предпринята попытка объяснить данные, полученные при исследовании сферолитов методами электронной и оптической микроскопии. Однако структура на поверхности, по-видимому, всегда отличается от структуры в блоке. Поэтому можно выдвинуть возражение против попыток представить внутреннее строение массивного образца, исследуя реплики с его поверхности. Однако Пальмер и сотр. предложили остроумный метод, позволяющий все же использовать этот способ. Для этого кристаллизацию образцов проводили в контакте с частично совместимым полимером, обладающим близкой по величине вязкостью расплава, в предположении, что кристаллизация на границе раздела двух полимеров протекает так же, как в блоке. Следовательно, изучение поверхности после разделения двух компонентов должно дать результаты, характерные для блока. [c.64] Вернуться к основной статье