Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
Для измерения поверхностных нер-овностей менее 1 применяют оптические приборы, лучший из которых пользует интерференционные линии. Эти и другие спо бы имеют ТО преимущество, что они не связаны с раз ] шением образца, что важно для процесса контроля, они дают картину, требующую специальной расшифр ки.

ПОИСК





Микрогеометрические характеристики

из "Электролитическое и химическое полирование"

Для измерения поверхностных нер-овностей менее 1 применяют оптические приборы, лучший из которых пользует интерференционные линии. Эти и другие спо бы имеют ТО преимущество, что они не связаны с раз ] шением образца, что важно для процесса контроля, они дают картину, требующую специальной расшифр ки. [c.12]
Метод испытания, связанный с разрушением образца и иввестный как метод конусного сечения, часто используют в лаборатории и применяют в широких масштабах. Он дает непосредственно настоящий микрорельеф [3] и ценен при последующих изменениях. микроструктуры в поверхностных слоях [4]. [c.13]


Вернуться к основной статье


© 2024 chem21.info Реклама на сайте