Микрообъективы

Все это обычно достаточно проделать только один раз при установке первой пластинки. При последующей работе с другими фотографическими пластинками только слегка улучшают фокусировку перемещением верхнего микрообъектива. [c.176]

Источник света ИС (лампа накаливания, лазер) с помощью конденсора Л1—Да формирует световой поток. Выделенная монохроматическим фильтром Ф и диафрагмой Д1 его часть попадает на полупрозрачное зеркало З1 и делится на два когерентных пучка. Один из пучков фокусируется иа контролируемый объект КО. помещенный на предметный столик ЛС, а другой — на поверхность эталонного зеркала З2. Отраженные лучи через микрообъективы М01 и МО2 и полупрозрачное зеркало З1 попадают в окуляр Ла, Л4, содержащий ряд линз и ограничивающую диафрагму Дз. Налагаясь в поле зрения, рабочий и эталонный световые потоки образуют интерференционную картину. [c.263]

Для работы в видимой области спектра применяют стандартные фото, телевизионные микрообъективы. В ИК и УФ диапазоне спектра применяют зеркальные объективы (типа Кассегрена и т.п.), реже - линзовые системы из фтористого бария, халькогенидных стекол и др. материалов, прозрачных в этих областях спектра. [c.490]

Измерительные микроскопы (в том числе портативные накладные) содержат набор измерительных шкал, расположенных в плоскости изображения микрообъектива и позволяющих контролировать линейные размеры деталей, радиусы, углы заточки резцов и т.п. Точность измерения с помощью окулярного винтового микрометра типа МОВ-15 достигает 0,5. .. 1 мкм при увеличениях 10 . .. 20 . Поле зрения микроскопов обычно 1. .. 20 мм. Многие измерительные микроскопы оборудованы устройствами прецизионного перемещения изделий в предметной плоскости микрообъектива с возможностью отсчета координат. Это расширяет диапазон измерений при сохранении высокой точности (диапазон перемещения составляет 50. .. 200 мм, погрешность отсчета - до 1 мкм). Увеличение и соответственно глубина резкости микроскопов выбираются, исходя из особенностей формы изделий. Многие модели современных измерительных микроскопов снабжаются устройствами измерения вертикального перемещения микрообъектива, т.е. обеспечивается трехмерное измерение объектов. [c.491]

Для наблюдений отдельных слоев по глубине небольших объектов (ювелирные кристаллы алмазов, рубины, пластины стекла и т.д.) пригоден метод последовательной фокусировки, основанный на применении микроскопа с объективом, имеющим малую глубину резкости (она равна 1 мкм для микрообъектива с Р бО- ). [c.520]

Схема освещения фотометрической части прибора. Луч света от лампы через конденсор 2, щель 3 и прямоугольную призму 4 направляется на нижний микрообъектив 5. Щель из зеленых светофильтров 3 служит для того, чтобы рассеянный свет не попадал в прибор. Между нижним и верхним микрообъективами 5 и 7 на специальном столике помещается пластинка со спектрограммой 6. Пройдя верхний микрообъектив 7, луч света направляется на экран щели 11. На пути к нему расположены линзы 9 и 10, увеличивающие изображение спектра па экране щели. За щелью расположены линза 12 и два нейтральных светофильтра [c.203]

При помощи рисунка схемы (см. работу 5) на экран выводят ту часть спектра, где расположена аналитическая пара линий. Вращением винта фокусировки верхнего микрообъектива добиваются четкого изображения проекции спектра на экран щели. Затем, вращая маховичок фокусировки нижнего микрообъектива, получают четкое изображение края зеленой осветительной щели на экране. При фотометрировании перемещение микрообъективов нежелательно. Поэтому до начала фотометрирования столик с пластинкой и объективы устанавливают так, чтобы в процессе работы четкое изображение аналитической пары линий любого спектра пластинки на экране достигалось только вращением винта 11. [c.204]

Общее увеличение оптической системы 35х, поэтому возможности глаза здесь не лимитируют контроль разрешаемых линий. Поверхность должна находиться в фокальной плоскости микрообъектива О1 (8x0,2) с фокусным расстоянием /1 = 18,2 мм. Призма Волластона работает при этом в параллельных пучках. После призмы выходят два луча, поляризованные в двух взаимно перпендикулярных плоскостях и разведенные на определенные угловое расстояние б, зависящее от угла ю призмы (рис. 63). [c.101]

Источник света L — лампочка (обычно 12 е, 30 вт), питаемая от феррорезонансного стабилизатора от сети. Конденсор дает резкое изображение нити лампочки на- микрообъективе Ох (40 X X 0,3), Объектив С>1 дает уменьшенное изображение конденсора Ki [c.189]

Фотометрическая часть состоит из осветительной лампочки /, которая проектируется конденсором 2 внутрь микрообъектива 5. Осветительная щель 3, состоящая из двух прозрач- [c.191]

Для приборов высокой светосилы (1 2—1 0,8) следует применять уже не сферические, а параболические зеркала или же сложную линзовую оптику типа оптики фотообъективов или микрообъективов. Это касается только объектива камеры, объектив коллиматора может иметь небольшое относительное отверстие и в соответствии с этим простую оптику. По такой схеме построен спектрограф СП-48 (рис. 14.13). Общий недостаток таких схем — хорошее качество изображения только вблизи середины поля зрения. [c.126]

Измеряемая пластинка укрепляется с помощью пружинных зажимов на столике 1 (рис. 12.17, а) эмульсией в сторону микрообъектива 2. Он проектирует измеряемый участок спектра в плоскость экрана 3, за которым помещена измерительная щель. Ширина ее регулируется винтом 4. С помощью специальной диафрагмы можно регулировать и действующую высоту измерительной щели. [c.307]

Источником света служит лампа накаливания 5 (рис. 12.17, б). Конденсор 6 освещает широкую щель 7, ножи которой сделаны из стеклянных пластинок зеленого цвета. С помощью поворотной призмы 8 и микрообъектива 9 щель резко проектируется в плоскость измеряемой эмульсии. Такое устройство позволяет получить на экране хорошо видимый достаточно большой участок спектра. Количество рассеянного света, попадающего в измерительную щель, должно быть по возможности малым. Увеличение проектирующей системы может меняться в пределах от 21 X до 30 X. Для этого служат дополнительные линзы. [c.307]

Рнс. 163. Оптическая схема микрофотометра ГОИ 1—лампа 12 V, 25 2—рефлектор, 3—конденсор, 4 —поворачивающие призмы, 5 — проецирующий и отображающий микрообъективы 0,30 и 10Х, 6—фокусирующая двойная рассеивающая линза, 7 — экран с раздвижной щелью, позади щели стоит фотоэлемент, —измеряемая пластинка, Р —ограничивающая щель, 10, 11, 72—вспомогательная система, вводимая в ход лучей для увеличения размеров освещённого поля при поисках линий. [c.153]

Лазерный микроскоп (рис. 56). В состав лазерного микроскопа входят лазерная головка 1 микрообъективы 2 и 6 с малым фокусным расстоянием, фокусирующие луч лазера на пробу предметный столик, на котором укреплена проба 5 держатель электродов вспомогательного разряда 9 окуляр 5 для визуального наблюдения за установкой пробы и электродов. За лазерной головкой установлена диафрагма 3, ограничивающая расхождение пучка света. [c.104]

I фокусируется конденсором К в плоскости микрообъектива который строит уменьшенное изображение конденсора на исследуемой фотографической пластинке Пл. В результате на ней оказыва- [c.205]

Дефектоскоп работает следующим образом. Излучение от оптического квантового генератора 1 (А,о = 0,63 мкм) расщиряется при помощи оптической системы 2, диафрагмируется и поступает на коллиматор 4. Параллельный пучок падает на контролируемую пленку 5, которая находится на отражающей подложке 6. Отраженное излучение формируется микрообъективом 7, диафрагмируется, и изображение проецируется на фоточувствительный слой [c.112]

По увеличению микрообъективы делятся на следующие три группы. [c.61]

Микроскоп имеет сменные объектив 1 и окуляр 5, что позволяет получать различные увеличения при наличии стандартных микрообъективов и окуляров. [c.105]

В оптическую систему проектора, кроме проекционного окуляра, входят сменные микрообъективы с увеличением 9 и 19,7 и полем зрения 0,88 мм и 0,4 мм соответственно. В первом случае увеличение проектора 228 во втором случае — 500 . Диаметр экрана 200 мм. [c.232]

Ультрафиолетовые лучи, выделяемые из излучения источника света 1 светофильтром 4, направляются кварцевым конденсором 2 во входной зрачок микрообъектива. Полевая диафрагма 3 призмой 5 и конденсором 6 проектируется на плоскость предмета. Изображение препарата в ультрафиолетовых [c.44]

Свет от лампы освещает щель 1 между зелеными пластинками, которая микрообъективом 16 проецируется в плоскость фотослоя. Микрообъектив 14 проецирует измеряемый участок спектра в плоскость выходной измерительной щели, которая вырезает из изображения спектра фотометрируемую площадку. Далее через серый клин 11 свет падает на фотоэлемент 12, через который течет электрический ток, отклоняя зеркальце гальванометра 5. В отсчетную часть входят та же осветительная лампа, конденсор 4, зеркальце гальванометра, три отсчетные щкалы на пластинке НН, объектив 6, линза 7 для подрегулировки начала отсчета, зеркало 8 и экран 9. Обе части связаны электрически отклонение зеркальца гальванометра пропорционально падающему на фотоэлемент количеству световой энергии. Угол поворота зеркальца оценивается проекцией освещаемой при этом части шкалы НН на экран 9. [c.128]

На рис. 15 представлена оптическая схема рефрактометра ИРФ-22. Лучи света от зеркала 1 направляются в осветительную призму 2, проходят тонкий слой анализируемой жидкости (находящийся между осветительной и измерительной призмами), измерительную призму 3, защитное стекло 4, компенсатор дисперсии 5 и попадают в объектив 6. Затем, преломляясь призмой 7, проходят стеклянную пластину 8, на которую нанесено перекрестие, и через окуляр 9 попадают в глаз наблюдателя. С этой частью оптической схемы связана отсчетная система рефрактометра. Осветительное зеркало 14 подсвечивает шкалу, изображение которой проектируется призмой 12 и микрообъективом И через призмы 10 в фокальную плоскость окуляра 9. Таким образом, в поле зрения окуляра можно одновременно наблюдать границу раздела света и тени, проектируемую призмой 7, перекрестие пластины 8 и штрихи шкалы И. [c.200]

Прибор снабжен микрообъективами зеркальной диафрагмой и экраном, позволяющим визуально наблюдать в поляризованном свете увеличенную в 150 раз поверхность исследуемого образца. [c.235]

Оптическая система установки состоит из двух основных частей осветительной, которая освещает плоскость копира через микрообъектив (для освещения копиров с конической или ступенчатой образующей) или снизу через стекло, на котором крепится копир (для освещения копиров с цилиндрической образующей), и проекционной, которая с помощью того же микрообъектива создает увеличенное изображение малого участка поверхности копира, проецируемое на фотокатод электрического датчика. [c.190]

Оптическое устройство состоит из лампы подсветки, закрепленной в регулируемом патроне и питающейся от расположенного на основании весов понижающего трансформатора (220/6,3 вольт), конденсора, микрообъектива оптической шкалы и трех зеркал. Последнее зеркало — подвижное изменяя угол наклона его вращением ручки (7), устанавливают шкалу на нуль. [c.13]

Ультрафиолетовые лучи, выделяемые из излучения источника света 1 светофильтром 4, проектируются кварцевым конденсором 2 на входной зрачок микрообъектива. Полевая диафрагма 3 призмой 5 и конденсором 6 проектируется на плоскость предмета. Изображение препарата в ультрафиолетовых лучах-проектируется объективом микроскопа 7 и ахроматическим кварцевым блоком 8 люминесцентного преобразователя на тонкий флуоресцирующий экран 9, на котором оно рассматривается в свете флуоресценции через [c.21]

Рис. 109. Принципиальная схема микрофотометра л—лампа —конденсор и Ог — микрообъективы Я — фотометрнруемая пластинка 111 — измерительная щель ФЭ — фотоэлемент Г — зеркальный гальванометр

I — лампа 2 к В — конденсоры 3 — осветительная щель 4к 8 — поворотные призмы 5к7 — микрообъективы 5 — фотографическая пластинка 5 — рассеивающие линзы /О — измерительная щель /У —линза, собирающая свет, прошедший измерительную щель на фотоэлементе /2 — серый клин 13 — рукоятка его вращения /4 — фотоэлемент 16 — шкалы П — зеркальце гальванометра 18 — объектив, который строит изображение шкал на экрчне /5 — поворотное зеркало 20 —экран 2/ —рукоятка для вывода нужной шкалы 22 —линза, служащая для небольшого смещения шкалы 2Л —рукоятка для ее поворота 24 и 26 — винты перемещения предметного столика 25 —рукоятка вращения измерительной щели вокруг оси 27 — шкала поворота серого клина 23—кожух [c.171]

До 100 г отсчет осуществляют непосредственно по оптической шкале. При взвешивании грузов, превышающих 100 г, его производят следующим образом число целых сотен граммов отсчитывают по счетчику, в окне которого последовательно будут появляться соответствующие цифры 1, 2, 3, 4 в зависимости от массы встроенной гири, снятой с подвески. К числу целых сотен прибавляют число граммов, отсчитанных по оптической шкале. Например, по счетчику взят счет 4, а по оптической шкале — 38,3 г, что будет соответствовать 438,3 г. Весы ВЛТК-500 находятся постоянно в рабочем состоянии (нет ар-ретирного механизма), вследствие чего все работающие части весов — под одним и тем же напряжением. Весы состоят из следующих узлов съемной чашки (1), квадранта (2) с призмами (8), демпфера (3), стойки (10) с подушками (7), на которые опирается призмами квадрант, подвески (9) с тремя встроенными гирями (И) массой 100, 100, 200 г, механизма снятия гирь с подвески с рукояткой управления, выведенной на правую сторону весов, оптического устройства, состоящего из микрообъектива, конденсатора, лампы подвески, оптической шкалы и трех зеркал (4, 5 и 14), причем зеркало 14 имеет регулировку по углу наклона, кожуха, закрывающегося сверху крышкой, основания весов с тремя регулируемыми ножками. [c.68]

Мйкроинтерферометр может быть выполнен и с одним объективом. При этом светоделительное зеркало и эталон размещаются между микрообъективом и контролируемой поверхностью. При работе в белом свете высота неровности [c.498]

Наибольшая глубина рисок, измеряемых с помощью двухлучевых микроинтерферометров, определяется апертурой и увеличением микрообъектива. Микроин- [c.498]

Глубину рисок или ступенек, поверхности которых у верхнего и нижнего краев имеют достаточную отражательную способность, измеряют интерференционноиндикаторным метолом. Интерференционные полосы наводят на резкость последовательно на дно риски и ее край. Глубина риски определяется величиной фокусиро-вочного перемещения микрообъектива. Этим методом можно измерять риски глубиной 20. .. 100 мкм при ширине до 0,25 мкм. [c.498]

Разработан метод, основанный на облучении полупроводника импульсами мощного лазера и регистрации параметров генерируемого при этом излучения второй гармоники. Интенсивность и степень поляризации этого излучения несут информацию о степени аморфизации подповерхностных слоев полупроводника, подвергнутого отжигу или т.п. процедурам. Излучение возбуждающего лазера фокусируется на объект микрообъективом, что обеспечивает высокое ( 1 мкм) пространственное разрешение. Образец сканируется с помощью цифрового микропривода предметного стола микроскопа. [c.519]

На рис. 11 показан общий вид микрофотометра МФ-2. Прибор смонтирован на металлической плите, установленной на трех подъемных ножках— амортизаторах 13. При помощи вращающихся ножек прибор устанавливается по уровню, укрепленному на поверхности плиты. Стол микрофотометра, на котором помещают фотопластинку, перемещается на роликах, для чего должен быть отпущен винт // 8 и 15 — винты для регулировки и установки столика в горизонтальной плоскости 16 — маховичок для поперечного перемещения столика 9 — микрометрический винт со шкалой для установки фотометрируемых линий на щель прибора 10 — кнопка для включения и выключения освещения фотоэлемента 12 — валик, при вращении которого перемещается круговой нейтральный клин перед фотоэлементом 14 — маховик на плоскости плиты для юстировки нижнего объектива 17 — осветитель— лампа с конденсорной системой 6 — винт для фокусировки верхнего микрообъектива 7 я 18 — винты регулировки объектива и изображения спектра на экране 19 — окно — индикатор положения диска затвора 21 — планки, регулирующие высоту щели 20 — маховичок и шкала установки оптического клина 22 — рычаг для поворота щели в вертикальной плоскости 23 — барабан, предназначенный для ограничения ширины фотометрируемого участка спектрограммы. Деления на барабане позволяют отсчитывать 0,01 мм 5 — рукоятка для совмещения микрошкалы с указателем на экране при отключенном фотоэлементе 4 — экран с измерительной щелью 3 — маховик вводит перед фотоэлементом фильтр для ослабления освещения 2 — винт для смены отсчетных шкал 1 — отсчетный матовый экран, заключенный в цилинд- [c.36]

В кожухе, расположенном справа, заключен низковольтная лампа 1 (6 V, 5 А) с маленьки размером светящегося тела. Чтобы обеспечить bi время работы постоянство отсчёта Iq, лампа, ка и во всех остальных типах микрофотометров питается от аккумуляторов ). В кожухе 1 заклю чена также конденсорная линза 2, отображающа нить лампы в плоскости проецирующего микрообъектива 4. Благодар этому освещённое пятно на спектрограмме при большой равномерно освещённости обладает в то же время довольно большими размерами что облегчает отыскание в спектре фотометрируемой линии. 3 прел ставляет собой щелевую диафрагму из зелёного стекла, проецируемую объективом 4 в плоскость пластинки 5. Благодаря наличию этой щели участки пластинки, прилегающие к фотометрируемой линии, освещены зелёным светом, на который фотоэлемент не реагирует, — это устраняет вредное действие рассеянного света, о котором шла речь выше ориентировка же в спектре не затруднена, так как смежные линии, прилегающие к измеряемой, видны на зелёном фоне вполне отчётливо. [c.150]

Большинство объектов и окуляров, применяемых в микроскопах, нормализованы. Приведем характеристики некоторых микрообъективов и микроокуляров, находящ,их применение в измерительной технике. [c.61]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология