Микроскопы настройка

Этот метод дает возможность быстро получить качественную картину распределения отдельных элементов по поверхности шлифа. Принцип растрового микроанализатора [14—16] заключается в следующем. Электронный зонд сканирует по небольшому участку на поверхности образца синхронно с лучом, двигающимся по экрану катодно-лучевой трубки регистрирующего блока. Яркость луча на экране модулируется сигналом, приходящим с рентгеновского спектрометра, регистрирующего линию выбранного элемента. На экране трубки получается видимое изображение распределения отдельных элементов по поверхности образца в зависимости от настройки спектрометра на регистрацию того или иного элемента. Кроме того, такие приборы дают картины поверхности шлифа в отраженных или проходящих электронах, работая как растровые электронные микроскопы. [c.63]

Существует ряд приборов для измерения глубины коррозии. Наиболее точные из них — оптические. При таких замерах могут применяться обычные металлографические микроскопы — в этом случае замер глубины питтинга идет методом расфокусировки прибора. Сначала резкость фокусируется на поверхности образца, затем на дне язвины, а глубина определяется по микрометрическому лимбу на рукоятке тонкой настройки прибора. Кроме обычных микроскопов применяют еще целый ряд оптических приборов, например профилографов. Преимуществом профилографа является возможность измерения язвины и получение в увеличенном масштабе фотографической или компьютерной записи микрогеометрии поверхности образца, поврежденного коррозией. По такой профилограмме представляется возможным судить не только о глубине питтингов, но и об их форме и типе распределения по исследуемой поверхности. [c.116]

После этого производят настройку микроскопа. Измеряемый срез помещают на столик микроскопа так, чтобы изображение толщины среза было параллельно изображению щели. [c.138]

Вращают винт тонкой настройки и совмещают границу раздела поля с перекрестием оптической трубки. Считывают показатель преломления через микроскоп с градуированной шкалы, оценивая четыре десятичных знака. [c.722]

Соберем содержащие крахмал семена различных видов растений, острым ножом разрежем их пополам, затем срежем очень тонкий слой и поместим его на предметное стекло. При необходимости добавим каплю воды и полученную суспензию равномерно распределим на предметном стекле, накладывая на него сверху другое такое же стекло. Плавно изменяя настройку микроскопа, мы увидим сильно преломляющие свет слои зернышек особенно четко они видны в случае картофельного крахмала. [c.280]

Изменением настройки лазерной головки можно повлиять на длительность импульса света, на его мощность. Изменением оптических параметров микроскопа — на энергию, приходящуюся на единицу поверхности образца, и на величину кратера. В зависимости от настройки лазерной головки реализуется либо режим непрерывной свободной генерации, либо режим гигантского импульса. Необходимый для анализа режим подбирается экспериментально. [c.105]

Настройка микроскопа для работы с искусственным освещением. Осветитель устанавливают на расстоянии около 250 мм от микроскопа так, чтобы световой пучок падал приблизительно на центр зеркала. Зеркало микроскопа повертывают плоской поверхностью к осветителю, и, вращая, направляют свет в конденсор. [c.19]

Настройка микроскопа для работы с естественным освещением. При работе с естественным (дневным) освещением микроскоп необходимо поставить так, чтобы зеркало плоской стороной было обращено к окну. Зеркало должно направлять свет в микроскоп от яркого участка неба (лучше всего от светлого облака). При естественном освещении не используется полевая диафрагма. Остальные указания относительно установки зеркала, конденсора и раскрытия апертурной диафрагмы те же. Наклоняя зеркало, следует добиться яркого освещения поля зрения микроскопа. [c.19]

Настройка микроскопа для работы при малом увеличении. [c.209]

Глядя в микроскоп, медленно приподнимайте тубус с помощью винта грубой настройки до тех пор, пока объект не попадет в фокус. [c.209]

Глядя в микроскоп и поворачивая винт тонкой настройки, медленно поднимайте объектив до тех пор, пока изображение не попадет в фокус. [c.210]

Глядя в микроскоп, очень осторожно сфокусируйте линзу с помощью винта тонкой настройки. Помните, что фокусная плоскость линзы находится всего в 1 мм от поверхности покровного стекла. [c.210]

Важным фактором, ограничивающим область применимости электронной микроскопии, является потенциальная возможность химической модификации образца при его сильном нагреве электронным пучком в условиях глубокого вакуума колонны электронного микроскопа (порядка 10 — Па в зависимости от паспортной разрешающей способности прибора). Во избежание этого явления часто проводят охлаждение исследуемого образца жидким азотом, однако это не всегда позволяет решить проблему из-за высокой локальности электронно-лучевого нагрева. Альтернативным методом является исследование при сильно пониженной интенсивности первичного пучка, однако это существенно затрудняет настройку параметров изображения и увеличивает время его регистрации. [c.248]

Не пытаться ремонтировать линзы объективов или сложные механизмы с точной настройкой. Лучше предоставить делать это специалистам. Хорошему микроскопу профессиональная чистка и настройка нужна раз в 20 лет или около этого. Те, кто имеет дело с микроскопами, обычно связаны с ремонтными мастерскими или могут порекомендовать их. [c.34]

Фотометрическую насадку устанавливают в гнездо головки тубусодержателя микроскопа вместо бинокулярной насадки. Окуляр вставляют в специальный патрубок. После настройки в поле зрения окуляра видны одновременно изображение объекта и изображение светового зонда (в виде пятна). В верхней части насадки устанавливают фотоумножитель для преобразования светового потока в электрические сигналы. Работает насадка с монохроматическим светофильтром. Регистрирующим устройством является балансная схема усилителя постоянного тока с из мерительным прибором. [c.117]

Использование двухлучевых спектрофотометров обычного типа в сочетании с отражательным микроскопом обсуждалось Блаутом и Эббейтом [18]. Установка отражательных микроскопов с объективами и конденсорами в обоих пучках, во-первых, дорого стоит, а во-вторых, неудобством является необходимость одинаковой настройки и фокусировки двух таких систем. Если же микроскоп устанавливается в одном из пучков, то для выравнивания длины пути лучей в другом пучке ставится удлиняющая путь прохождения лучей метровая газовая кювета. Давление или влажность воздуха в кювете подбирается так, чтобы получить полную компенсацию полос поглощения атмосферных паров. Было показано, что таким образом можно действительно добиться уменьшения отклонений от линии стопроцентного пропускания примерно до 2%, т. е. постоянства показаний в пределах примерно 4%. Такая точность, сохраняющаяся и в процессе работы, для большинства целей достаточна. Авторы предлагают аналогичным образом компенсировать также поглощение растворителей. Очевидно, однако, что когда один из пучков является сильно сходящимся, то лучи различных его частей проходят пути, сильно отличающиеся по длине, и интенсивность их в пределах той или иной полосы поглощения будет уменьшаться совсем по-разному. В менее сильно сходящемся пучке нельзя достигнуть полной компенсации поглощения во всем интервале изменения коэффициента погаше- [c.284]

Покровные стекла представляют собой стеклянные пластинки размером 18X18 мм и толщиной 0,17 мм. Они используются исключительно при работе с объективами водной или масляной иммерсии с собственным увеличением 40X0,75 или 85x1,0. Водной иммерсией служит маточный раствор, в котором образовались наблюдаемые кристаллы. В этом случае настройку микроскопа производят следующим образом открыв полностью апертурную диафрагму конденсора и проверив центровку осветителя, вращением рукоятки грубой фокусировки микроскопа очень осторожно опускают тубус почти до соприкосновения объектива с каплей маточного раствора, в которой находятся возникшие микрокристаллы. Между фронтальной линзой объектива и препаратом образуется слой жидкости. Добиваются резкого изображения препарата вращением рукояток механизма микрометрической фокусировки. При этом нужно всегда помнить, что работа в водной (растворной) иммерсии возможна только при нейтральной реакции маточного раствора. Ни в коем случае нельзя работать в присутствии в растворе свободных кислот и щелочей [c.34]

Передвигая осветитель, спроектировать нить лампы в плоскость апертурной диафрагмы. Для этого на оправу осветительной линзы 10 положить лист папиросной бумаги и с помощью центрировочных винтов 3 фонаря получить четкое изображение нити в центре отверстия апертурной диафрагмы. После настройки освещения приступить к настройке микроскопа. [c.176]

С помощью винта грубой настройки поднимите вверх тубус микроскопа и поворачивайте револьверную головку до тех пор, пока объектив с малым увеличением (х10 или 16 мм) не попадет в паз тубуса (при этом раздастся щелчок). Увеличительная способность линзы обьргно бывает указана на ее оправе. [c.209]

Сфокусируйте конденсор, не убирая препарата с предметного столика. Поднимите конденсор (рис. 5.36) так, чтобы расстояние между ним и предметным столиком было не более 5 мм. Глядя в микроскоп, поворачивайте винт грубой настройки до тех пор, пока объект не попадет в фокус. Теперь наводите фокус конденсора до тех пор, пока изображение лампы не наложится точно на препарат. Поместите конденсор несколько вне фокуса так, чтобы изображение лампы исчезло. Теперь освещение должно быть оптимальным. В конденсор вмонтирована диафрагма. Ею регулируют величину отверстия, через которое проходит свет. Это отверстие должно быть открыто как можно щире. Таким образом достигается максимальная четкость изображения. [c.210]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология