ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Ховик и сотр. (1965) отметили, что основная проблема связана с расчетом экспозиции по полному заряду, накопленному монитором. Это связано с тем, что диэлектрик и проводящая подложка могут участвовать в процессе ионообразования в разных соотношениях, так как дуговой разряд перемещается вдоль поверхности электродов. Недостатком этой методики является обязательное предварительное определение следов в медной подложке; кроме того, некоторые аналитические характеристики ухудшаются вследствие наложения линий основы и подложки на линии некоторых примесных элементов.