Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

[<< Стр.]    [Стр. >>]

На рис. 1.41 показан образец с двумя надрезами (искусственными дефектами), выполненными под углами 45 и 90 ’ к боковой поверхности 180 х 8 мм. Образец контролировали способом воздушной взвеси магнитного порошка. Из приведенного рисунка видно, что области увеличенного значения магнитной индукции расположены под донной частью обоих надрезов.

[<< Стр.]    [Стр. >>]


[Выходные данные]

ПОИСК





На рис. 1.41 показан образец с двумя надрезами (искусственными дефектами), выполненными под углами 45 и 90 ’ к боковой поверхности 180 х 8 мм. Образец контролировали способом воздушной взвеси магнитного порошка. Из приведенного рисунка видно, что области увеличенного значения магнитной индукции расположены под донной частью обоих надрезов.


© 2025 chem21.info Реклама на сайте