ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Как видно из сказанного выше, в общем удается различать изменения объектов, вызываемые в электронном микроскопе термическим и ионизирующим действием пучка. Однако это различие является в известной степени условным. Так, Хансен [73, 74] показал, что и чисто температурные повреждения в электронном микроскопе могут протекать иначе, чем для тех же веществ в вакуумной печи, так как в микроскопе препараты могут взаимодействовать с подложкой и углеродной оболочкой, которой покрывается объект в результате крекинга паров углеводородов. Таково, например, взаимодействие закиси меди, восстанавливаемой электронным пучком, с пленкой из окиси кремния, приводящее к разрушению пленки. Углеродная пленка может оказывать двоякое действие на устойчивость препаратов. В одних случаях она стабилизирует, например, тонкие слои меди, в других облегчает поверхностную миг- рацию атомов металлов и способствует изменению препаратов в процессе исследования (например, в случае тонких напыленных слоев серебра). Механизм этих явлений очень сложен, изучение их только начинается. Последний эффект можно объяснить допущением, что осаждающаяся углеродная пленка как бы разрыхляет поверхностные слои серебра, делает атомы более подвижными. Эти факты прежде всего указывают на то, что лишь ограниченное применение могут иметь способы определения температуры объектов в электронном микроскопе, основанные на сравнительном исследовании температур плавления и других термических превращений, наблюдаемых в микроскопе и в вакуумной печи. Кроме того, лишний раз делается ясной необходимость соблюдения осторожности при интерпретации разнообразных превращений, которые могут встречаться при электронно-микроскопических исследованиях.