Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

[<< Стр.]    [Стр. >>]

[<< Стр.]    [Стр. >>]

ПОИСК





Отношение вторичной ионизации, обусловленной рассеянными фотонами, к первичной ионизации в зависимости от толщины слоя алюминия .

[Выходные данные]



© 2026 chem21.info Реклама на сайте