ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы АСМ изображения нанокластерной системы, образованной из сильно взаимодействующих кластеров с разрешением 500 . Длина линии — 14 нм, максимальная глубина рельефа — 6,4 нм [Выходные данные]