ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Метод эллипсометрии определяет различия в поляризации падающего света и света, отражешюго от границы раздела привитый слой — подложка, что позволяет рассчитывать толщину привитых и адсорбированных слоев [Выходные данные]