ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Дифракция на порошках из "Аналитическая химия Том 2" В качестве примера на рис. 11.2-10 мы приводим дифракционную картину для BaS с кубической кристаллической решеткой. В рамках данной главы невозможно привести полный список всех возможных приложений рентгеновской дифракции на порошках. [c.403] В табл. 11.2-2 приведены наиболее широко используемые приложения, которые кратко обсуждены ниже. [c.403] В данной записи перечислены межплоскостные расстояния решетки для восьми наиболее сильных линий (первые три выделены полужирным шрифтом) в порядке уменьшения интенсивности, а положение данной записи в картотеке определяется величиной (3,14 А) для самой интенсивной линии. Подстрочные индексы относятся к относительным интенсивностям Ihki по отношению к первой линии (ж = 10). Идентификация компонентов смеси для двух или трех соединений также достаточна проста, с тем условием, что каждый из компонентов имеет процентное содержание в образце более 5%. Важным аспектом метода дифракции на порошках является его неразрушающая природа. [c.405] Положение неизвестного соединения в каталоге Ханаволта определяется значением d для линии с максимальной интенсивностью d = 3,12 А. Сравнение с имеющимися записями приводит нас к выводу, что искомым соединением является сфалерит, /З-ZnS. Современные дифрактометры снабжены программным обеспечением для автоматической идентификации числа компонентов в смеси веществ. [c.406] Вернуться к основной статье