Дифракция на порошках

При дифракции на порошках (разд, 11,2,2) микрокристаллические образцы, содержащие примерно 10 случайно ориентированных индивидуальных кристаллитов (размером 5 10 — 5 10 " см), обеспечивают одномерные распределительные диаграммы интенсивность — угол дифракции , которые могут быть использованы для идентификации веществ, определения их физических свойств, измерения размеров кристаллитов и в какой-то степени для выяснения кристаллической структуры. При дифракции на монокристаллах обычно требуются монокристаллы с размерами 0,1-0,6 мм этот метод является стандартным вариантом рентгеноструктурного анализа (разд, 11,2,3), [c.401]

Дифракция на порошках требует микрокристаллических образцов. [c.401]

В качестве примера на рис. 11.2-10 мы приводим дифракционную картину для BaS с кубической кристаллической решеткой. В рамках данной главы невозможно привести полный список всех возможных приложений рентгеновской дифракции на порошках. [c.403]

Дифракция на порошках представляет собой мощный недеструктивный аналитический метод для идентификации твердых соединений. [c.404]

Пример. Идентификация соединения методом дифракции на порошках [c.405]

Для неизвестного соединения методом дифракции на порошках для брэгговских отражений экспериментально измерены следующие межплоскостные расстояния d и наблюдаемые интенсивности /о [c.405]

Введение в дифракцию на порошках (порошковы рентгенограммы, выбор излучения, излучения фона, исключение излучения фона). [c.325]

Качественный анализ нри дифракции на порошках (картотека порошковых рентгенограмм, идентификация о использованием изоморфизма, специальные методы идентификации). [c.325]

В данной записи перечислены межплоскостные расстояния решетки для восьми наиболее сильных линий (первые три выделены полужирным шрифтом) в порядке уменьшения интенсивности, а положение данной записи в картотеке определяется величиной (3,14 А) для самой интенсивной линии. Подстрочные индексы относятся к относительным интенсивностям Ihki по отношению к первой линии (ж = 10). Идентификация компонентов смеси для двух или трех соединений также достаточна проста, с тем условием, что каждый из компонентов имеет процентное содержание в образце более 5%. Важным аспектом метода дифракции на порошках является его неразрушающая природа. [c.405]

Идентификацию данного вещества можно осуществить при помощи каталога Ханаволта (Картотека дифракции на порошках, РВР) следующим образом. Во-первых, наблюдаемые интенсивности нормируют на линию с наивысшей интенсивностью д, = 3,123 А). Затем значения д, для восьми наиболее интенсивных линий выписывают в порядке уменьшения относителыюй интенсивности следующим образом [c.405]

Ширины линий в случае рентгеновской дифракции на порошках обратно пропорциональны размеру кристаллитов. Измерение ширин на половине высоты /3i/2 позволяет оценить размер частиц, что весьма интересно для фармацевтического производства. Прямая аналогия с рассеянием под малыми углами очевидна. В этом методе уширение неотклоненного рентгеновского луча используется для исследования размеров и формы некристаллических макромолекул. [c.406]

Данные, получаемые при помощи метода дифракции на порошках, сд-номерны. Так как для типичной кристаллической структуры можно ожидать до 100-200 измеряемых независимых брэгговских отражений hkl на атом, то перекрывание линий будет колоссальным для всех случаев, кроме самых простых. Хотя метод дифракции на порошках, конечно, на раннем этапе развития рентгеновской дифракции применяли для определения небольших структур, его ограничения по сравнению с исследованием монокристаллов (разд. 11.2.3) привели к длительному периоду относительного застоя. Однако структурное уточнение с аппроксимацией профиля по одномерным данным об интенсивности для дифракционных картин порошков при помощи метода Ритвельда привело к возрождению метода дифракции на порошках за последние 20 лет. Хотя применимость данного метода ограничена в настоящее время структурами с менее чем 200 параметрами (см. разд. 11.2.3), метод Ритвельда является весьма важным в материаловедении, где многие соединения, имеющие технологическое значение, доступны только в микрокристаллическом виде [11.2-2, [c.406]

Количественный анализ при дифракции на порошках (основные принципы, методики, изготовление образцов, измерение интенсивности, чунотиительность, точность, количественный анализ путем измерения периодов решетки). [c.325]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология