ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Контроль металлических изделий из "Неразрушающий контроль Т5 Кн1" Представленные выражения свидетельствуют, что для электропроводящего ОК измеренное значение R на его участке несет информацию об электрофизических свойствах материала контролируемого участка (об удельном электрическом сопротивлении р) и о его геометрических размерах (о площади поперечного сечения 8 при заданной длине / или о длине / при заданной площади 5). В этой связи основными направлениями использования метода электрического сопротивления при контроле ОК из электропроводящих материалов являются определение геометрических параметров ОК и контроль параметров материала ОК, влияющих на его удельное электрическое сопротивление р. [c.508] Толщинометрия электропроводящих пленок и покрытий на изоляционной основе - это одна из основных задач, эффективно решаемых методами электрического сопротивления (метод первого направления). В качестве примера рассмотрим метод измерения толщины медного покрытия в отверстиях печатных плат. Типовые технологические процессы изготовления двухсторонних и многослойных печатных плат предусматривают металлизацию отверстий. Цель метачпи-зации - обеспечение электрического соединения проводников на противоположных сторонах двухсторонних плат и слоев многослойных плат, а также повышение надежности паяных соединений. Важнейшим параметром, определяющим эксплуатационные характеристики платы, в частности ее надежность, является обеспечение заданной толщины Гок медного покрытия, которая не должна быть меньше регламентированного значения. [c.509] Решение этой проблемы достигается использованием специальной конструкции электродов для подключения к ОК. Каждый из двух электродов вьшолнен в виде усеченного конуса, прижимаемого с помощью пружин к торцу контролируемого отверстия (рис. 6.2, а). Тело усеченного конуса 1 (2) выполняет роль токового электрода, а врезанная в него металлическая пластина 3 (4), отделенная от основного тела с помощью изоляционной прокладки 5 (6), выполняет роль потенциального электрода. Коническая поверхность электродов обеспечивает их хорошее самоцентрирование в отверстии и снижение за счет этого погрешности измерения К из-за неоднородности поля токов в зоне контактирования потенциальных электродов. [c.509] Таким образом реализуется четырехэлектродная (ее называют также четырехпроводной) схема измерения сопротивления (на рис. 6.2, б представлена эквивалентная электрическая схема), при которой переходные сопротивления токовых контактов 1 п 2 (соответственно / тк1 и Лтй) не влияют на значение измеряемого напряжения и, переходные сопротивления потенциальных контактов 3 и 4 (соответственно / пкз и Дпк4) пренебрежимо малы по сравнению с входным сопротивлением измерителя напряжения и, следовательно, также практически не влияют на и, а измеренное значение и при неизменном токе 1 пропорционально искомому значению сопротивления металлического покрытия отверстия К = 1Л1. [c.510] Значение R в данном случае может рассчитываться по обычной зависимости, при этом, однако, вводится понятие эффективной площади 5эф поперечного сечения, но которой проходит ток / от электрода 5 к электроду 2. Линии тока в реальном ОК образуют бочкообразную форму (рис. 6.3, а), объем которой может быть условно заменен эквивалентным цилиндром с длиной, равной толщине ОК О = Тоу), и площадью поперечного сечения обеспечивающей сопротивление эквивалентного цилиндра, равное измеренному значению сопротивления R-. [c.510] Попадание дефектного участка ОК в зону контроля приводит к искажению линий тока и, соответственно, к изменению измеренного значения сопротивления R. Указанное явление положено в основу метода поиска дефектов ОК по его электрическому сопротивлению. При реализации метода осуществляется сканирование ОК путем задания относительного перемещения ОК и комплекта электродов по заданной траектории, обеспечивающей контроль всего ОК. О наличии и местоположении дефекта судят по существенному изменению (всплеску) значения электрического сопротивления R при сканировании ОК с экстремумом, соответствующим нахождению дефекта на линии расположения потенциальных электродов. [c.510] Вернуться к основной статье