Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English
В спектрографах типа Иоганна и Кошуа нельзя добиться строгой фокусировки пучка рентгеновских лучей, падающих на изогнутый кристалл и отражающихся от него в точку наблюдения. Степень совершенства этой фокусировки и, следовательно, разрешающая способность прибора зависят от соотношения геометрических величин, характеризующих спектрограф радиуса кривизны кристалла и расстояний от него до источника рентгеновских лучей и их регистратора. Для выяснения оптимальных соотношений между этими величинами рассмотрим вначале идеализированный случай фокусировки лучей бесконечно тонким кристаллом, образующим двухмерную совокупность рассеивающих центров.

ПОИСК





Условия фокусировки рентгеновских лучей в спектрографах

из "Светосильная аппаратура для рентгеноспектрального анализа"

В спектрографах типа Иоганна и Кошуа нельзя добиться строгой фокусировки пучка рентгеновских лучей, падающих на изогнутый кристалл и отражающихся от него в точку наблюдения. Степень совершенства этой фокусировки и, следовательно, разрешающая способность прибора зависят от соотношения геометрических величин, характеризующих спектрограф радиуса кривизны кристалла и расстояний от него до источника рентгеновских лучей и их регистратора. Для выяснения оптимальных соотношений между этими величинами рассмотрим вначале идеализированный случай фокусировки лучей бесконечно тонким кристаллом, образующим двухмерную совокупность рассеивающих центров. [c.21]
в который входит х , может быть в первом приближении опущен по сравнению с членами, содержащими у я у . [c.24]
Выражения (12) и (13) можно несколько упростить, опустив в знаменателях величину Относительная ошибка. [c.24]
Это означает, что величина аберрационных искажений сильно зависит от длины рабочего участка кристалла и при прочих равных условиях возрастает в области малых углов отражения. Качественно эти выводы хорошо согласуются с тем, что наблюдается в опыте. Конечно, нельзя ожидать количественного согласия выведенных в этом параграфе теоретических формул с экспериментально наблюдающейся шириной линии в спектрографах с изогнутым кристаллом, так как практически ширина линии должна зависеть также от дополнительных факторов, не учтенных при анализе фокусировки в идеализированной схеме спектрографа. Эти факторы будут рассмотрены в следующем параграфе. [c.26]


Вернуться к основной статье


© 2024 chem21.info Реклама на сайте