Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Условия фокусировки рентгеновских лучей в спектрографах

    Условия фокусировка рентгеновских лучей в спектрографах [c.21]

    Этот метод был впервые предложен Иогансоном [21], который продемонстрировал его эффективность на примере усовершенствования спектрографа типа Иоганна. Уменьшение ширины спектральных линий в приборе достигается улучшением условий фокусировки рентгеновских лучей. Это сводит к нулю один из членов, образующих геометрическую ширину спектральных линий Ь ). Величина двух других членов (6а и Ь ) в формуле для ширины линий остается при этом без изменения. [c.29]


    Синусный механизм образует нижний этаж кинематической схемы прибора. В верхнем этаже расположено описанное уже ранее (стр. 107) устройство, обеспечивающее выполнение условий фокусировки рентгеновских лучей в спектрометре. При любом повороте хобота щель спектрографа всегда находится на окружности изображения. Для этого служит специальная тяга, один конец которой шарнирно укреплен в центре окружности изображения, а другой — Б точке, соответствующей месту расположения щели. Длина тяги равна половине радиуса кривизны кристалла, и ее можно регулировать в небольших пределах. [c.111]

    При систематическом рассмотрении используемых в настоящее время и возможных методов фокусировки рентгеновских лучей, базирующихся на применении в спектрографе цилиндрически изогнутого кристалла—анализатора, удобно предварительно сформулировать весьма общее геометрическое условие, выполнение которого необходимо [c.10]

    Будем различать две группы светосильных рентгеновских спектрографов с изогнутым кристаллом. К первой группе можно отнести приборы, в которых осуществляется так называемая вертикальная, или аксиальная, фокусировка рентгеновских лучей кристаллом. Для приборов этого типа условие компланарности выполняется не всегда достаточно строго и тем лучше, чем в большей мере фокусировка лучей в спектрографе приближается к аксиально-симметричной. Ко второй группе отнесем приборы с плоскостной или, как ее иногда называют, горизонтальной фокусировкой лучей кристаллом. В приборах этого типа оба вектора о и 5, характеризующие направления падающей и отраженной от кристалла волн рентгеновской радиации, лежат в плоскости кругового сечения цилиндра, и поэтому условие компланарности выполняется автоматически. [c.12]

    Измеряемая полуширина спектральных линий при работе со спектрографами с изогнутым кристаллом в общем случае должна отличаться от естественной ширины и в большей или меньшей мере зависеть от геометрических условий фокусировки лучей в приборе. Эта величина, естественно, должна быть определяема в тех же условиях, в которых в дальнейшем предполагается проводить анализ. Элементарная теория фокусировки рентгеновских лучей в спектрографе с изогнутым кристаллом, работающим по схеме на отражение , показывает, что величина расширения спектральных линий, возникающая из-за несовершенства фокусировки лучей в таком приборе, пропорциональна котангенсу угла отражения лучей от атомных плоскостей изогнутого кристалла. Поэтому, если естественные ширины спектральных линий группы анализируемых элементов мало отличаются друг от друга и составляют относительно небольшую часть измеренной на опыте величины Г, то можно ожидать, что Г для группы последовательно расположенных друг за другом аналитических линий элементов будет также линейным образом зависеть от величины котангенса угла отражения. Как видно из рассмотрения графика, представленного на рис. 93, именно такая зависимость обнаруживается при сопоставлении величин Г для Ы,- и Рх-линий редкоземельных элементов. Это очень облегчает установление величины Г, так как позволяёт вычислять ее для линий любого из элементов рассматриваемой группы при помощи графика, построенного на основании немногих измеренных величин для тех элементов, которые имеются в распоряжении экспериментатора. [c.181]


    Разработкой теории и конструированием спектрографов с вертикальной фокусировкой лучей занимались в середине тридцатых годов Кунцль, Далейшек и Таерле [10, 11, 12]. В 193/—1938 гг. последние описали оригинальную конструкцию спектрографа, основанного на этом принципе. По данным этих авторов, им удалось добиться значительного повышения светосилы рентгеновских спектральных приборов и, работая при больших расстояниях между щелью спектрографа, кристаллом и фотопленкой, довести разрешающую способность спектрографов этого типа до величины около 2700, что сопоставимо с разрешающей способностью существующих двойных кристалл-спектрографов. Особенностью геометрических условий фокусировки таких приборов, как показал Кунцль [10], является зависимость радиуса кривизны их кристалла от длины волны и, следовательно, от угла (Брегга — Вульфа) отражающихся от него рентгеновских лучей. Если р — радиус кривизны кристалла, — радиус окружности изображения спектро- графа, а 6 — угол Брегга — Вульфа, то [c.17]

    Ван-ден-Берг и Бринкман [13] предложили другую конструкцию рентгеновского светосильного спектрографа с вертикальной фокусировкой лучей. Они использовали этот прибор для работы в мягкой области рентгеновского спектра (9—19А) и стремились в первую очередь повысить светосилу спектрографа, а не его разрешающую способность. Поэтому радиус кривизны изогнутого кристалла слюды в спектрографе Ван-ден-Берга и Бринкмана был небольшой. Он равнялся 200 мм и оставался неизменным при изменении угла отражения. Высота кристалла 140 мм, ширина 40 мм. При неподвижном кристалле на фотопленке одновременно регистрировалась область спектра протяженностью около 0,5А. Для выполнения условий фокусировки, заключающихся в равенстве расстояний 7 от кристалла до линейчатого фокусного пятна на анопе рентгеновской трубки и [c.17]


Смотреть страницы где упоминается термин Условия фокусировки рентгеновских лучей в спектрографах: [c.32]    [c.94]   
Смотреть главы в:

Светосильная аппаратура для рентгеноспектрального анализа -> Условия фокусировки рентгеновских лучей в спектрографах




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Лучи рентгеновские

Спектрограф

Спектрография

Фокусировка луча

лучами рентгеновскими лучами



© 2024 chem21.info Реклама на сайте