ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Рентгеновская дифракционная микроскопия (РДМ) из "Кристаллография рентгенография и электронная микроскопия" Под РДМ понимают совокупность методов изучения микроскопического строения объекта с помощью дифракции рентгеновских лучей. Методами РДМ можно изучать как субструктуру моно- и крупных поликристаллов (размер и разориентировку субзерен), так и индивидуальные дефекты (дислокации, дефекты упаковки, выделения примесей). [c.373] При определенных оптических условиях съемки каждой точке интерференционной картины (пятна) соответствует точка поверхности или объема образца. Изменение ориентации и (или) размера субзерен друг относительно друга приводит к изменению направления распространения отраженных лучей, а следовательно, к взаимному смещению их изображений. [c.373] Методы РДМ применимы при изучении относительно совершенных кристаллов, плотность дислокаций в которых не превосходит 105 мм . Эффективность методов, кроме причин, зависящих от особенностей рассеяния рентгеновских лучей отдельными объемами кристалла, определяется еще и геометрическими условиями эксперимента размером и формой источника, спектром применяемого излучения, расстоянием источник—кристалл и кристалл-—фотопластинка (счетчик). В связи с тем, что в большинстве случаев РДМ дает дифракционное изображение элементов структуры в натуральную величину или близких к ней размеров, микрорентгенограммы требуют обычно дальнейшего увеличения. Поэтому эффективность РДМ зависит также от разрешающей способности используемых фотоматериалов. В отечественных лабораториях используют обычно пластинки НИКФИ с эмульсией типа МК, имеющие разрешение не хуже 375 линий/мм. [c.373] Вернуться к основной статье