ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Концентрирование следов элементов физическими методами из "Эмиссионный спектральный анализ Том 1" Следы элементов в диэлектрических материалах можно отделить от основных компонентов сублимацией или фракционным испарением таким же способом и при тех же условиях, как и в случае металлических проб (разд. 2.2.7). Так, например, следы 5Ь, В1, Сс1, РЬ, 5п и Си в чистом алюминии определяли с чувствительностью 10- —10- % [1]. Следы примесей в ториевых и берил-лиевых соединениях определяли испарением в вакууме [2]. [c.48] Условия испарения при предварительном отделении часто более благоприятны, если проба нагревается при соответствующей температуре в потоке хлора или брома [3]. [c.48] При добавлении графита к пентоксиду ванадия примеси из пробы можно испарить при 1900 °С [4]. Этим способом в собранном сублимате определяли 19 элементов в интервале концентраций 10- —Ы0 % с относительной погрешностью 10—18%. Добавка 1% натрия (в виде хлорида) улучшает воспроизводимость и предел обнаружения метода. [c.48] Физическое обогащение часто применяется непосредственно в источнике излучения (разд. 3.2.4). [c.48] Вернуться к основной статье