ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы К вопросу о псевдоморфизме при эпитаксии из "Ориентированная кристаллизация" За исключением работ [59, 60], все остальные экспери.менты проводились на поликристаллических подложках. Между тем для получения достоверных результатов, очевидно, необходимы исследования только с монокр1истальными образцами. [c.222] Существенное возражение против указанной выше интерпретации возникает, когда псевдоморфизм относится к произвольно ориентированному осадку на монокристаллической подложке. Если взаимодействие чa f,иц осадка и подложки недостаточно для ориентированного роста, то тем более нет основании для изменения параметров решетки произвольно растущих кристаллов. [c.222] Экспериментальная проверка ранних результатов, относя-ш,ихся к образованию окисла на цинке, осуществлена Райзером, Лукасом и Эйлерсом [62—67]. Авторы изучали окисление плоскости скола (001) Z n при выдерл ке ее на воздухе. Окисная пленка возникала очень быстро и достигала такой толщины, что при электронографическом исследовании полностью экранировала поверхность цинка. [c.223] Шишаков [68], использовав электронограмму Финча и Кворелла от А1, сконденсированного на Pt, заново пересчитал меж-плоскостные расстояния, и пришел к заключению, что она соответствует не тетрагональной, а двум разным решеткам (кгц). [c.223] На рис. 64 представлена картина, соответствующая интерпретации Шишакова и Пэшли. Ее форма аналогична наблюдаемой экспериментально. Индицирование электронограммы, представленное в табл. 43, также подтверждает новую интерпретацию. По сравнению со значениями межплоскостных расстояний, вычисленных Финчем и Квореллом, величины йш в таблице увеличены на 2,8%. Такое увеличение допустимо, так как оно находится в пределах погрешности измерения дл,ины волны. [c.224] Такая интерпретация вполне приемлема и с точки зрения физического механизма протекания процесса. Алюминий конденсировался на произвольно ор иентированную пленку платины, которая рекристаллизовалась в течение осаждения вследствие термического нагрева излучением. Рекристаллизация. могла сопровождаться образованием смеси кристаллов А1 и Pt, которая и ответственна за полученную электронограмму. [c.224] Опыты Кокрэйна [59] по изучению электролитических осадков Ni и Со на монокристалле серебра повторены Ньюменом [72] Для измерения толщины слоя осадка он использовал радиоактивный Со °, что позволило определять осадки со средней толщиной 1 А и более. [c.224] Вернуться к основной статье