ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Чувствительность и точность метода испарения из "Эмиссионный спектральный анализ атомных материалов" Чувствительность. При полном возгоне и конденсации примесей на электроде относительная чувствительность определений зависит главным образом от абсолютной чувствительности спектроскопических определений элементов-примесей, возбужденных в том или ином источнике света. [c.372] В методе испарения относительная чувствительность определений находится в прямой зависимости от веса пробы. Од-.нако вес пробы не может быть неограниченно большим, — он определяется падением коэффициента конденсации с увеличением навески, а также конструктивными параметрами установки и часто возможностями пробоотбора. [c.372] Из предыдуш,его очевидно, что абсолютная чувствительнисть определений в методе испарения сравнительно мало завнсит от природы основного вещества пробы. Все же такая зависимость имеет место в первую очередь для примесей, обладающих малой летучестью (например, Ве). Степень конденсащщ таких примесей зависит от температуры, до которой возможно нагревание анализируемого материала. [c.373] В работах Р-приводятся несколько различающиеся между собой данные о чувствительности. Различия эти связаны главным образом с выбором аналитических линий, а также с некоторыми изменениями процедуры испарения и режима источника света. Однако различия эти, в общем, невелики, и табл. 41 дает возможность объективно сравнить абсолютную чувствительность, достигаемую обоими методами. [c.373] Примечания. 1. Вес проб 50 мг. Внутренние стандарты, одновременно вводимые в пробы в концентрации 1 10 % Оа и Са. Испарение в вакууме и на воздухе, температура нагрева проб 1900—2000° С, время испарения 1,5 мин. Источник возбуждения — конденсированная искра. [c.374] Погрешности определены по данным 50 спектрограмм, полученных при возгоне примесей на воздухе, поэтому ошибки несколько завышены по сравнению с результатами, обычно получаемыми при испарении в вакууме. Правильность подбора аналитических пар была проверена экспериментально путем изменения параметров искрового разряда. [c.375] В табл. 43 показано влияние межэлектродного промежутка на изменение разности почернений аналитических пар при анализе циркония и тантала. Как видно из таблицы, подобранные пары достаточно надежны. [c.375] Даже в тех случаях, когда спектр как целое сильно ослаблен присутствием какого-либо элемента в количестве, превышающем 1-10 1%, наличие внутреннего стандарта позволяет провести анализ на многие элементы, что совершенно исключено, если внутренний стандарт отсутствует. [c.376] В табл. 44 приведены результаты опытов, в которых в тщательно приготовленные эталоны на основе гОг вводились поочередно кремний, железо и натрий в концентрации 0,1%. Несмотря на то, что абсолютные значения почернений ряда примесей сильно изменились при введении указанных элементов, наличие внутреннего стандарта позволяло проводить анализ, хотя погрешность его несколько возрастала. Обращает на себя внимание тот факт, что резкие изменения содержания Ма, 51 и Ре при наличии внутреннего стандарта не повлияли на определение малых концентраций Сс1 (3-10 5%) с помощью дуги, хотя аналитическая пара подобрана не очень удачно. В искровом источнике пользоваться этой парой нельзя. [c.376] Следует также указать, что введение внутреннего стандарта для одного или нескольких элементов уменьшает опасность систематических ошибок при определении других элементов по абсолютным почернениям если почернения линий внутреннего стандарта во всех спектрах проб и эталонов остаются одинаковыми в пределах случайных ошибок опыта, то это служит гарантией отсутствия грубых экспериментальных ошибок при проведении анализа по абсолютным почернениям аналитических линий. [c.376] Систематические ошибки анализа, как и в обычных методах, зависят от качества эталонов. Близость химического состава эталонов и проб очень существенна для уменьшения систематических погрешностей. [c.376] Тщательное приготовление эталонов не может, конечно, предотвратить несоответствие состава и структуры эталонов составу и структуре проб. Самый надежный способ, позволяющий снизить до минимума ошибки анализа, возникающие по этой причине, — введение хорошо подобранных внутренних стандартов. При этом даже серьезное несоответствие количественного состава эталонов пробам обычно не сильно сказывается на результатах анализа. [c.378] Помимо непосредственной проверки эталонов химическим или другими методами, одним из способов контроля правильности эталонов служит сравнение результатов спектрального анализа с данными, полученными другими методами. [c.379] В тех случаях, когда приготовление чистой основы затруднено, иногда можно воспользоваться приемом построения градуировочных графиков по спектрам, полученным путем последовательного уменьшения веса применяемых эталонов. На рис. 161 приведены градуировочные графики для анализа циркония, полученные таким способом. Сравнение результатов анализа по этим графикам и по графикам, построенным обычным путем, показало отсутствие систематического расхождения (в пределах ошибок определений). Однако здесь следует учитывать возмол ную зависимость коэффициента конденсации от величины навески. Поэтому таким приемом следует пользоваться с осторожностью, проводя предварительную тшатель-ную проверку достоверности результатов анализа. [c.379] Необходимо отметить, что определения такого важного в ряде задач элемента, как бор, при столь малых концентрациях последнего (1 10 %) можно проводить с погрешностью, не превышающей 10—15% от содержания р 0]. Это лишний раз свидетельствует о широких возможностях метода испарения как приема, позволяющего проводить надежное одновременное определение многих элементов, содержащихся в пробах в виде ничтожных следов. [c.379] Анализ ошибок показывает, что основную роль в величине погрешности метода играет ошибка в процессе испарения. Она особенно существенна для тех определяемых элементов, степень конденсации которых при данных условиях анализа мала. [c.380] Из всех факторов, определяющих величину погрешности за счет процесса испарения, наибольшее значение имеет ошибка в установлении температуры нагрева пробы. Например, для никеля из суммарной ошибки в 13%, обусловленной процессом испарения, 12% приходится на ошибку в установлении температуры. [c.380] Тот факт, что основной вклад в погрешность анализа вносится ошибкой в процессе испарения, не является особенностью этого метода. Хорошо известно, что основные погрешности обычных методов анализа как руд, так и металлов вызываются неконтролируемыми процессами, происходящими при нагревании и испарении проб, обрабатываемых дуговым или искровым разрядом. [c.380] При определении многих примесей в различных материалах ошибку удалось снизить до 5—6%, т. е. до величины, характерной при определении довольно больших концентраций. Ошибки анализа по методу испарения, связанные с возбуждением спектра, с фотографическим процессом и фотометрической обработкой спектрограмм, по своей величине не отличаются от ошибок обычных методов спектрального анализа. [c.380] Вернуться к основной статье