ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Рентгеновская микроскопия из "Химическое сопротивление стеклопластиков" Изучение структуры и дефектности стеклопластиков, а также их изменения под воздействием внешних факторов может осуществляться методом рентгеновской теневой микроскопии [40]. [c.62] Основу рентгеновского теневого микроскопа составляют острофокусная рентгеновская трубка с катодом в виде петли, диафрагма, играющая роль единичной электростатической линзы, и анод в виде иглы с радиусом закругления 0,2 мкм. Электроны, испускаемые катодом, ускоряются напряжением, которое подается на анод, фиксируются линзой и затормаживаются на игольчатом аноде, возбуждая рентгеновские лучи. Лучи, проходя через образец, проектируют его теневое изображение на фотопленку. [c.62] Разрешающая способность микроскопа-0,8 мкм. Исследование проводится на шлифах среза торцевой части образца толщиной 300 мкм. Выбор толщины шлифа определяется двумя факторами соизмеримостью толщины образца с предполагаемыми размерами дефектов (что предотвращает наложение изображения по толщине) и возможностью возникновения механических повреждений при изготовлении шлифов с уменьшением их толщины. Шлиф просматривается по всей толщине. [c.62] Съемка производится мягким излучением при анодном напряжении 8-10 кВ и силе тока 7-10 мА длина волны 0,135 нм. Используют рентгеновскую пленку марок РМ-1 и РТ-1. [c.62] Фотографии, получаемые на рентгеновском микроскопе, дают качественную картину изменения структуры материала, а при помощи фотометра по этим фотографиям можно получить и количественную оценку. Для количественной оценки введен фактор поглощения , представляющий собой площадь под фотометрической кривой [40]. По этой кривой можно подсчитать и количество открытых пор. [c.62] Вернуться к основной статье