Рентгеновская микроскопия

На основе рентгеновидиконов ЛИ-417 и ЛИ-423 выпускаются прикладные телевизионные установки ПТУ-38 и ПТУ-39, имеющие общепромышленное применение, а также телевизионные рентгеновские микроскопы типа МТР. [c.307]

Чтобы получить точечный источник лучей большой интенсивности для теневого (проекционного) изображения несамосветящихся объектов, можно использовать линзовую систему (рис. 22.1, б). Такая схема применяется, например, в электронографе для получения микроскопических теневых изображений объекта при увеличениях 10—100. Самостоятельное значение имеет эта схема в конструкции теневого рентгеновского микроскопа. [c.549]

Такие острофокусные трубки были разработаны для проекционной рентгеновской микроскопии (см. ниже). Они были использованы также для дифференциальной абсорбциометрии по обе стороны от края поглощения (см. 5.4), как показано на рис. 110. В этой схеме образец помещается прямо против точечного источника рентгеновского характеристического излучения, а его увеличенное изображение после отражения от изогнутого анализирующего кристалла проектируется на окно пропорционального счетчика. Длины волн, возбуждающие образец, определяются материалом использованной мишени, и для каждой задачи они могут быть подобраны специально. Ошибки, создаваемые дрейфом источника рентгеновского излучения, исключаются небольшим равномерным и частым покачиванием кристалла таким образом, что от него отражаются лучи двух длин волн, расположенных по обе стороны от края поглощения. С помощью такой схемы было выполнено определение кальция на участке диаметром 10 juk в срезе биологического объекта. Надежность результатов составляет несколько процентов от найденного количества кальция на площади указанного размера (2-10" г и даже меньше). [c.309]

Метод получения изображения рентгеновском излучении при сканировании по площади представляет по существу растровый рентгеновский микроскоп. Усиленный сигнал от детекторной системы—спектрометра с дисперсией по энергии или кристалл-дифракционного спектрометра — используется для модуляции яркости электронно-лучевой трубки (ЭЛТ), которая сканируется синхронно с электронным пучком. Таким образом, изображение на экране ЭЛТ получают за счет изменения интенсивности рентгеновского излучения с поверхности образца. Здесь используется такая же система развертки с регулировкой увеличения и такой же усилитель, что и в растровом электронном микроскопе (гл. 4). Электронный пучок может сканировать по линии в направлениях X или У и давать распределение рентгеновского излучения по линии. Пример типичного сканирования по линии для Со и Сг по поверхности окисленного высокотемпературного сплава приведен на рис. 5.14 (гл. 5). Электронный пучок можно, конечно, развертывать и по площади н получать изображение в рентгеновских лучах. Изображение в рент-геповски.х лучах при сканировании по площади может содержать тона от черного до белого в зависимости от условий эксперимента. Места с высокой концентрацией исследуемого элемента в пределах области сканирования будут на изображении почти белыми, серыми, когда концентрация элемента ниже, и черными всюду, где элемент отсутствует. Пример, иллюстрирующий результаты исследования руды, приведен на рис. 6.15. [c.296]

Особое значение рентгеноструктурный анализ приобрел при изучении металлов и их сплавов (кристаллохимия сплавов). Однако применение рентгеновских лучей не ограничивается только определением структур. Известны и другие варианты использования явления дифракции — рентгенофазовый анализ и рентгеновская микроскопия. [c.122]

Важной областью применения рентгеновских лучей является рентгенография металлов и сплавов, к-рая превратилась в отдельную отрасль науки. Понятие ( рентгенография включает в себя, наряду с полным пли частичным Р. а., также и другие способы использования рентгеновских лучей — рентгеновскую дефектоскопию (просвечивание), рентгеноспектральный анализ, рентгеновскую микроскопию и др. Элементы Р. а, в рентгенографии металлов используются очень широко. Определены структуры чистых металлов и многих сплавов. Основанная на Р. а. кристаллохимия сплавов — один из ведущих разделов металловедения. Ни одна диаграмма состояния металлич. сплавов не может считаться надежно установленной, если данные сплавы не исследованы методами Р. а. Благодаря применению методов Р. а. оказалось возможным глубоко изучить структурные изменения, протекающие в металлах и сплавах при их пластич. и термич. обработке. [c.331]

Как уже отмечалось, такие острофокусные рентгеновские трубки первоначально разрабатывались для проекционной рентгеновской микроскопии [284]. Этот метод необходимо отличать от настоящей рентгеновской микроскопии, в которой изображение формируется дифракцией или отражением рентгеновских лучей. [c.310]

Фотографии, получаемые на рентгеновском микроскопе, дают качественную картину изменения структуры материала, а при помощи фотометра по этим фотографиям можно получить и количественную оценку. Для количественной оценки введен фактор поглощения , представляющий собой площадь под фотометрической кривой [40]. По этой кривой можно подсчитать и количество открытых пор. [c.62]

Третий способ получения ограниченного по размерам первичного рентгеновского пучка основан на известной электронно-оптической схеме точечного рентгеновского фокуса в теневой рентгеновской микроскопии [17, 18]. Остро сфокусированный электронный зонд возбуждает в тонкой мишени рентгеновское излучение, которое проходит через диафрагму на образец. Из-за малой общей мощности зонда интенсивность вторичного спектра ограничена настолько, что приходилось применять бездисперсионный метод регистрации спектра и получать качественную информацию о составе при разрешении элементов, различающихся не менее чем на 3 порядковых номера. Использование рентгеновского спектрометра в этой схеме [19] настолько снизило интенсивность спектра, что его регистрация могла быть осуществлена только фотографическим способом при больших экспозициях. Так, спектр Ге—N1—Сг-сплава при навеске [c.75]

При падении рентгеновских лучей на твердое тело под малым углом (около 0,5°) к поверхности наблюдается явление полного внешнего отражения (аналогичное полному внутреннему отражению света), которое, в частности, используется при создании рентгеновских микроскопов ., [c.141]

Различия в характере структур гранул можно наблюдать визуально на рентгеновском микроскопе типа МИР . В прил-лах четко различимы внутренние полости, в структуре Сг — высокая концентрация крупных пор, в С4 — плотно прилегающие концентрические слои состоящие из кристаллических блоков в сферической упаковке. [c.12]

Рентгеновская спектроскопия, как и рентгеновская флуоресцентная спектроскопия — спектрохимические методы идентификации различных элементов, присутствующих в твердых телах [4911,—еще далеко не нашли достаточно полного применения. Однако сейчас находит все большее применение метод рентгеновской микроскопии, предложенный впервые Бергом [492] и Барретом [493] более тридцати лет назад. Например, Ньюкирк [494] использовал метод Берга — Баррета для определения положений участков с искаженной кристаллической решеткой, таких, как области, непосредственно окружающие дислокации в твердых телах. Ленг [495] разработал метод рентгеновской просвечивающей микроскопии, и этот метод может быть с успехом применен [496] для определения концентрации и распределения дислокаций и соответствующих им векторов Бюргерса в большинстве твердых тел. Возможность установления степени кристаллографической дисориентации, дефектов роста и напряжений в твердых телах является предпосылкой [497] для понимания роли дефектов кристаллической решетки в гетерогенном катализе (см. гл. 5). [c.145]

Рентгеновский микроскоп фирмы General Ele tri (рис. Ill) выполнен в виде оперативного стола и весит вместе с механическим насосом около 135 кг. Внутри находится высоковакуумная система, электроннооптическая система и источник питания. Пульт управления и фотокамера видны на рисунке. Удобным узлом прибора является манипулятор, позволяющий производить перемещение образца в трех взаимно-перпендикулярных направлениях и получать пространственное представление об образце. Блок автоматического проявления, встроенный в фотокамеру микроскопа, позволяет наблюдать результаты спустя 1 мин после окончания экспозиции. Полное увеличение (включая и оптическое) достдгает 1500. Такое увеличение достигается и в оптическом микроскопе. Электронный микроскоп позволяет получать и гораздо большие увеличения. [c.312]

ЧАСТЬ VI. Микрорадиография и рентгеновская микроскопия. [c.326]

Рис. 78. Принцип дейст-ВИЯ простейшего рентгеновского микроскопа

За последние несколько десятилетий получил развитие ряд важных микроскопических методов. К их числу относятся метод фазового контраста, цветного фазового контраста, методы интерференционной, рентгеновской, электронной и эмиссионной микроскопии. Толанский 1246] описал изящные методы многолучевой интерференционной микроскопии и их применение. Хотя эти методы нашли широкое применение в биологии и медицине, их использование для анализа полимерных материалов более ограниченно и специфично. Поэн [190] исследовал несколько полимерных материалов при помощи рентгеновского микроскопа, однако имеется мало данных об успешном приложении метода цветного фазового контраста и методов эмиссионной и многолучевой интерференционной микроскопии. Применение метода электроннолучевого зондирования все еще ограничено материалами, состоящими из тяжелых атомов. [c.247]

Рис. 111. Рентгеновский микроскоп фирмы General Ele tri . В приборе использовано рентгеновское теневое проектирование для увеличения и обнаружения деталей внутренней структуры образцов, непрозрачных для электронов и света

Контактная микрорадиография с ультрамягкими рентгеновскими лучами (поглощение мягких и упьтрамягких рентгеновских лучей, получение мягких и ультрамягких рентгеновских лучей, материалы для регистрации, исследование биологических объектов с помощью рентгеновской микроскопии в ультрамягком излучении). [c.326]

Экспериментально поврежденность структуры можно определить при помощи рентгеновского микроскопа и оценить фактором поглощшия. [c.172]

Развитие методов анализа малых проб и методов рентгеновского микроанализа и рентгеновской микроскопии оказало значительное влияние на развитие методов определения in situ. С другой стороны, успехи определения малых количеств или следов элементов были достигнуты со стандартной аппаратурой благодаря усовершенствованию рентгеновских трубок, приемников излучения и электронных схем. [c.202]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология