ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Структурные амплитуды и распределение электронной плотности по ячейке из "Основы структурного анализа химических соединений 1982" Уравнение (35) —вторая основная формула структурного анализа. Она выражает зависимость электронной плотности в некоторой точке ячейки от совокупности структурных амплитуд лучей, дифрагированных кристаллом. Если известны структурные амплитуды всех отражений, то можно найти значение xyz) в любой точке, а значит, и распределение плотности по ячейке, в том числе и положение всех максимумов — центров тяжести электронных облаков атомов. [c.82] Структурные амплитуды линейно связаны с атомными амплитудами [формула (28)], а последние убывают по мере увеличения sin OA, а следовательно, и по мере увеличения индексов hkl. Поэтому сами F hkl), разные для разных отражений, в среднем также уменьшаются по величине по мере возрастания индексов. Это позволяет оборвать ряд Фурье на некоторых максимальных индексах без введения существенных ошибок в результаты. [c.82] Вернуться к основной статье