ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Теория из "Физические методы анализа следов элементов" Производство высокочувствительных фотопластинок стало насущной необходимостью в науке вообще и в том числе в спектроскопии. Вследствие природы одного из главных исходных материалов — желатины, изготовляемой из костного мозга, нельзя ожидать идентичности различных партий фотоэмульсии. Однако эти свойства фотоэмульсии можно учесть. [c.161] В начале развития фотографии Хертер и Дриффильд показали, что связь меледу интенсивностью и плотностью очень сложна, она в первую очередь зависит от экспозиции, типа эмульсии и длины волны излучения. [c.162] Процесс количественного спектрального анализа намного упростился, если бы измеряли интенсивность линии только определяемого элемента. В действительности в результате измерения интенсивности линии определяемого элемента вводятся поправки. [c.162] Известная как внутренняя стандартизация , одна поправка связана с элементом (внутренним стандартом), специально добавляемым в пробу в определенной концентрации. Внутренним стандартом мол ет слул ить такл е и основной элемент пробы. Так, в случае анализа окиси цинка линией сравнения слул ит линия цинка. Для анализа водных осадков в качестве внутреннего стандарта можно добавить 0,1% индия или лития. [c.162] Вторая поправка относится к учету фона она исключительно важна в установлепии порога чувствительности анализа (см. гл. 1). [c.163] Поскольку воспроизводимость анализа связана с чувствительностью, необходимо стремиться к максимальной точности измерения особенно на нижней части характеристической кривой. Обычно находят интенсивность фона /ф и вычитают ее из общей интенсивности линии и фона для получения значения 1ц в уравнении (2). [c.163] Учет фона для линии внутреннего стандарта во многих случаях не приводит к повышению точности анализа. Для полноты необходимо добавить, что распространенный метод учета фона не обоснован теоретически. Славин [20] отметил, что характеристическая кривая, построенная по непрерывному фону, значительно отличается от кривой, построенной по спектральной линии. [c.163] Вернуться к основной статье