ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Дифракционная микрорентгенография из "Рентгенографический и электроннооптический анализ Издание 2" Методами дифракционной микрорентгенографии можно выявить различные несовершенства кристаллического строения фрагменты кристаллов, границы зерен или субзерен, а также отдельные дислокации, выделения, дефекты упаковки и т. п. Эти методы основаны на том, что при определенных оптических условиях съемки каждой точке интерференционного пятна соответствует одна точка поверхности отражающего кристалла при съемках на просвет интерференционное пятно можно рассматривать как проекцию кристалла (т. е. проекцию элементов его субструктуры) в соответствии с ориентацией отражающей плоскости. Для определения линейных размеров отражающих фрагментов (или субзерен) и углов их разориентировки пользуются специальными методами. [c.219] Можно выделить две группы методов анализа. [c.219] В первой группе методов (А) создают условия для измерения линейных размеров фрагментов и углов их разориентировки. [c.219] Во второй группе методов (Б) решают задачу визуализации дислокаций и некоторых других дефектов строения кристаллов (при не слишком большой плотности этих дефектов). [c.219] Линейное разрешение —минимальное расстояние между двумя точками объекта, которое дает раздельное изображение на пленке. [c.220] Угловое разрешение —минимальный угол разориентации двух соседних субструктурных составляющих, который можно обнаружить при данных условиях эксперимента. [c.220] При выборе геометрии съемки не следует стремиться получить линейное разрешение лучшее, чем разрешение фотоматериала. Из-за разориентаций между субструктурными составляющими их изобрансе-ния на пленке или расходятся, образуя просветы, или перекрываются, образуя более затемненные участки (рис. 127 атлас, 18). [c.220] По угловым размерам этих участков можно рассчитать углы разориентации, а по величине изображений фрагментов — размеры структурных составляющих. [c.220] Знак плюс соответствует темной граничной области, минус — светлой. [c.221] Ф — угол скольжения луча при падении на пленку. [c.221] Таким образом, для получения наилучшего углового разрешения необходимо брать расстояние В большим, а для получения наилучшего линейного разрешения нужно иметь малое отношение BID. Для определения линейных размеров зерен или субзерен проводят съемку при двух значениях В. Тогда после экстраполяции величины изображения какого-либо зерна или субзерна к поверхности образца ( = 0) получим их размер. [c.221] Измерив размеры изображений блоков и высчитав увеличение из геометрии съемки, определяют размеры блоков. Из известной геометрии съемки находят разрешение метода. [c.221] На основе рассчитанных размеров и разориентаций субзерен и рассчитанного разрешения делают вывод о совершенстве кристалла. [c.221] При работе на отражение все расчетные параметры находят предварительно (ф, А, ) и m измеряют на пленке, затем по соответствующим формулам рассчитывают так же, как в предыдущем случае. [c.221] Для получения хорошего контраста следует в качестве отражающих плоскостей выбирать те, для которых максимальна структурная амплитуда. При анализе дислокаций следует иметь в виду, что контраст исчезает, если вектор Бюргерса (й) находится в отражающей плоскости =0, где —вектор обратной решетки для действующего отражения . [c.223] Приготовление образца для анализа по методу Бормана проводят следующим образом. В случае кремния из слитка вырезают монокри-сталлическую пластинку толщиной 1,5—2 мм, а в случае германия 1 мм так, чтобы грани пластинки были параллельны плоскости (111) (с точностью до 1°). После шлифовки и химической полировки для удаления механически нарушенного слоя образец помещают в камеру для съемки. [c.223] Для получения микрорентгенограммы удобно выбирать в качестве отражающих плоскостей плоскости типа 110 . [c.223] Для получения максимального разрешения следует ориентировать образец так, чтобы отражающие плоскости были перпендикулярны плоскости максимальной расх0лТ,им0сти рентгеновских лучей. [c.223] Увеличенная микрорентгенограмма позволяет непосредственно судить о характере распределения дислокаций в объеме кристаллической пластинки (атлас, 19). Изучив характер контраста изображений дислокаций и его зависимость от индексов отражающих плоскостей и определив кристаллографическое направление осей прямолинейных участков дислокаций, можно определить вектор Бюргерса, а также их тип по классификации Хорнстра (табл. 1). Это и составляет задачу расшифровки рентгенограмм, снятых по методу Бормана. [c.223] Если щирина изображения вдоль всей линии дислокации постоянна, то дислокация находится в плоскости (111). С помощью стандартной проекции [111] (для кубического кристалла) определяют кристаллографическое направление, соответствующее направлению линии дислокации, так как из условий эксперимента известна взаимная ориентация микрофотографии и кристалла. [c.224] Вернуться к основной статье