Дифракционная микрорентгенография

Методы, в которых исследование субструктуры проводится путем наблюдения за рефлексами от отдельных кристаллов. К ним относятся метод микропучков, метод кривых качания, метод рассеяния под малыми углами и дифракционная микрорентгенографии. [c.304]

Дифракционная микрорентгенография. Основы рентгеновской дифракционной микроскопии (микрорентгенография) были заложены Бергом [31, 32]. Им было показано, что исследование поверхности. монокристалла с помощью рентгеновских лучей может быть проведено двумя способами либо применением точечного источника и белого излучения, либо линейного источника и монохроматического излучения. В этих случаях каждая точка интерференционного пятна соответствует только одной точке на поверхности монокристалла (рис. 1). Различная отражательная способность отдельных участков кристалла позволяет выявить в нем наличие дезориентированных областей, а также других несовершенств. [c.307]

Методами дифракционной микрорентгенографии можно выявить различные несовершенства кристаллического строения фрагменты кристаллов, границы зерен или субзерен, а также отдельные дислокации, выделения, дефекты упаковки и т. п. Эти методы основаны на том, что при определенных оптических условиях съемки каждой точке интерференционного пятна соответствует одна точка поверхности отражающего кристалла при съемках на просвет интерференционное пятно можно рассматривать как проекцию кристалла (т. е. проекцию элементов его субструктуры) в соответствии с ориентацией отражающей плоскости. Для определения линейных размеров отражающих фрагментов (или субзерен) и углов их разориентировки пользуются специальными методами. [c.219]

Для изучения изменения плотности дислокаций в процессе рекристаллизации можно использовать электронную микроскопию тонких фольг, методы дифракционной микрорентгенографии (анализсубструктуры), рентгеновской топографии. Если плотность дислокаций не превосходит 10 см-2, 0 возможен анализ их с использованием эффектов экстинкции (см. п. 7.4 и п. 15.2). [c.372]

По нашему мнению, наиболее полные данные о макроструктуре кристалла можно получить с помощью дифракционной микрорентгенографии. Эти.м мечидом можно изучить с высокой степенью точности макроскопическое строение кристалла (размеры и разориентация блоков, плотность дислокаций и т. д.). Другие. методы также представляют значительный интерес для специальных исследований строения кристаллов и могут быть использованы для решения ряда отдельных вопросов. [c.314]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология