ПОИСК Статьи Рисунки Таблицы Полевой ионный микроскоп из "Физико-химия нанокластеров наноструктур и наноматериалов" Полевой ионный микроскоп также был создан Мюллером в 1951 г. [5]. [c.50] В ионном микроскопе тонкое острие, подобное аналогичному устройству в электронном полевом микроскопе, является анодом. В основе метода лежит явление ионизации на поверхности металла молекул или атомов газа в сильном электрическом поле за счет туннелирования валентных электронов в металл. В качестве газа изображения применяется гелий и другие инертные газы. Ионы газа, ускоряясь полем 10 Ч-10 В/см дают на экране изображение атомной структуры поверхности. На рис. 2.10 показана схема полевого ионного микроскопа с усилением изображения. [c.50] Ионизация молекулы газа в электрическом поле может быть рассмотрена с помощью схем на рис. 2.11. [c.50] Если взять атом Не в качестве газа изображения, то для поверхности вольфрама получим = 4 А при ф = 4,5 эВ, Е( = 24,5 эВ и = 5 В/ А. [c.51] Метод позволяет получать изображения отдельных атомов упорядоченной структуры поверхности металла, а также дефекты структуры. На рис. 2.12 показана фотофафия поверхности платины с дефектом структуры [5]. [c.51] Большинство современных работ в области полевой ионной микроскопии ведется с применением гелия. Однако переходные и благородные металлы могут испарятся в электрическом поле, соот-ветствуюшем ионизации гелия со скоростью около атомного слоя в секунду. [c.53] Введение в практику неона и водорода позволило получить изображения таких металлов, как железо и никель, причем его яркость может быть увеличена с помощью усилителя (рис. 2.10). [c.53] Вернуться к основной статье