Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

спектроскопия при скользящем

    Более тонкие слои можно анализировать, используя ИК-спектроскопию при скользящем падении. Чувствительность этого метода составляет единицы монослоя. Для детального ознакомления с этим методом, уже реализуемым в промышленных образцах ИК-микроскопов, рекомендуем специальную литературу, например, монографию Н. Харрика (см. с. 199). [c.185]


Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.0 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

спектроскопия при скользящем НПВО

спектроскопия при скользящем изомерам

спектроскопия при скользящем количественный анализ

спектроскопия при скользящем метод внешнего отражения

спектроскопия при скользящем молекулярная специфичность

спектроскопия при скользящем недеструктивный анализ

спектроскопия при скользящем неупругое рассеяние

спектроскопия при скользящем оптические окна

спектроскопия при скользящем падении

спектроскопия при скользящем послойный анализ

спектроскопия при скользящем рэлеевская линия

спектроскопия при скользящем селективность по отношению

спектроскопия при скользящем спектральный диапазон

спектроскопия при скользящем спектрометры с фурье-преобразование

спектроскопия при скользящем стоксов сдвиг

спектроскопия при скользящем таблетки из бромида калия

спектроскопия при скользящем техника эксперимента

спектроскопия при скользящем тонкая вращательная структура

спектроскопия при скользящем фотоакустическая спектроскопия

спектроскопия при скользящем эмиссионная спектроскопия



© 2025 chem21.info Реклама на сайте