спектроскопия при скользящем падении

Более тонкие слои можно анализировать, используя ИК-спектроскопию при скользящем падении. Чувствительность этого метода составляет единицы монослоя. Для детального ознакомления с этим методом, уже реализуемым в промышленных образцах ИК-микроскопов, рекомендуем специальную литературу, например, монографию Н. Харрика (см. с. 199). [c.185]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология