Микроскопия (С. Ньюмен)

При помощи разработанных недавно методов — дифракции электронов и электронной микроскопии — была накоплена важная информация о характере роста осажденных металлических пленок. Некоторые из этих разработок будут рассмотрены в данном разделе. Основным источником информации служат работы Бассета сотрудниками [221], Ньюмена и Нашли [222], Ньюмена [223] и Грунбаума [224]. [c.183]

Справочник химика 21