Дифракция электронов

Рис. 3. Дифракции электронного пучка.

Электронография. Метод аналогичный рентгенографии и основан на дифракции электронов [323, 324]. В отличие от последнего, в электронографии иссле- [c.157]

В рассматриваемом диапазоне свет проявляет не только волновые свойства (дифракция, интерференция, поляризация и др.), но и квантовые или корпускулярные, такие как фотоэффект, излучение и поглощение атомов и др. В то же время движущиеся частицы проявляют волновые свойства (дифракция электронов). Этот корпускулярно-волновой дуализм материи лежит в основе квантовой механики. [c.91]

Изучение дифракции электронов проводится в установке, называемой электронографом. Схема, показывающая принцип действия этого прибора, представлена на рнс, 1,24. [c.62]

Какие из описанных ниже экспериментов самым непосредственным образом подтверждают гипотезу де Бройля о волновых свойствах материи а) дифракция рентгеновских лучей б) фотоэлектрический эффект в) рассеяние альфа-частиц при прохождении через металлическую фольгу г) излучение абсолютно черного тела д) дифракция электронов [c.380]

Исследования дифракции электронов обычно проводятся с ускорением электронов в поле с разностью потенциалов 40000 В, в результате чего электроны приобретают энергию 40000 эВ. Какую длину волны имеют такие электроны [c.356]

Г. П. Томсон (1892-1976). Английский физик, лауреат Нобелевской премии 1937 г. за разработку метода дифракции электронов. Сын Дж. Дж. Томсона. [c.66]

Для определения структуры и типов соединений, образующих пленку, используют электронографический метод на массивных образцах — метод дифракции электронов на отражение, а для исследования тонких пленок, предварительно отделенных от металла — метод на прохождение. [c.436]

При изучении дифракции электронов в приборе нужно поддерживать весьма высокий вакуум, поэтому установку соединяют с вакуум-насосом большой производительности. [c.63]

В 1924 г. Л, де-Бройлем была высказана гипотеза, что такая двойственная природа характерна ие только для света, но и для всех микрочастиц — электрона, протона и др. Энергия всех таких частиц связывается с частотой свойственных им волн тем же соотношением Е=к. Несколько лет спустя было открыто явление дифракции электронов, причем результаты количественного изучения этого явления полностью согласовались с выводами гипотезы де-Брой-ля. Позднее было открыто явление дифракции также протонов и других частиц. [c.44]

Волновые свойства электрона обнаруживаются в упомянутом выше явлении дифракции электронов. Явление дифракции (см. курс физики) было хорошо известно для световых лучей, для рентгеновских лучей и других электромагнитных колебаний. Дифракция обусловливается волновой природой этих лучей. Поэтому существование дифракции электронов подтверждает наличие у них волновых свойств. Это явление, теоретически описанное де-Бройлем (1924), было экспериментально обнаружено Дэвиссоном и Джермером (1927). В СССР оно впервые было исследовано П. С. Тартаковским в том же году. [c.44]

Близко к этому методу (рентгенографии) стоит метод дифракции электронов (электронография). Волновая механика показывает, что при действии пучка электронов на поверхность кристалла возникают те же дифракционные эффекты, что и при действии рентгеновских лучей. Определение структуры кристаллов и молекул методом дифракции электронов привело к результатам, полностью совпадающим с результатами, получаемыми с помощью рентгенографии, В последние годы с этой же целью стали применяться и нейтроны (нейтронография), что дало возможность определять положение и водородного атома, чего не удавалось достигнуть методами рентгенографии и электронографии. [c.123]

В таблице приведены данные для молекул в парообразном состоянии, полученные в основном методом дифракции электронов и оптическими методами. Величины, заключенные в скобки, недостаточно надежны. [c.342]

Изучение малоуглового рассеяния молекулами рентгеновских лучей хорошо согласуется с результатами измерений методами электронной микроскопии, дифракции электронов [271] и ультрацентрифугирования. [c.282]

П. Д. Данков [22] при изучении строения поверхностного слоя катализаторов методом дифракции электронов указал, что теория активных центров Тейлора неверна. По П. Д. Данкову, это можно доказать рассмотрением схемы кристаллической решетки (рис. 20), кубики которой представляют элементарные частицы. Внутри кристалла частицы скомпенсированы шестью соседями по числу граней куба. Частицы на поверхности связаны с пяти сторон и обладают лишь одной свободной связью. Аналогично частица 1, связанная одной связью с поверхностью, хотя и имеет пять свободных связей, но может реагировать с другой частичкой лишь одной плоскостью. Частицы 2 ц 3 могут связывать другие частицы соответственно двумя и тремя плоскостями. [c.112]

Электронография. Метод электронографии основан на явлении дифракции электронов на молекула . Прн встрече пучка электронов, характеризуемых длиной волны де Бройля 1, с препятствием, имеющим размеры того же порядка, что и I., возникает дифракция, соответствующая этрй длине волны. [c.62]

Показанные на рис. 6-1 и 6-2 распределения углеродных и внедренных слоев в большинстве случаев нуждаются в поправке [6-12]. Исследования методом дифракции электронов показывают, что многие МСС имеют в своем составе несколько ступеней [6-2]. [c.256]

ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ — метод исследования вещества, основанный на дифракции электронов. Э. применяется при исследовании кристаллов, поверхностей различных тел, строения молекул и др. Исследования проводятся иа приборе — электронографе. [c.290]

Метод дифракции электронов низкой энергии дает информацию о кристаллографической структуре поверхности. В этом методе пучок электронов с энергией порядка 100 эВ направляется перпендику- [c.85]

Таким образом, для понимания механизма пассивации необходимо изучение закономерностей образования, роста и свойств окисных слоев. Для этого используют разнообразные электрохимические и оптические методы, например, отражение света, эллипсометрию, дифракцию электронов и др. Ю. Эванс разработал иодидный метод отделения пассивирующей пленки от металла, который основан на том, что раствор + К1 проникает через поры пленки к поверхности металла и растворяет его. Отделенный от металла тонкий пассивирующий слой может быть далее подвергнут электронно-микроскопическому исследованию. [c.382]

Дефекты кристаллической решетки — это нарушения периодичности строения кристалла, т. е. нарушение периодичности пространственного расположения атомов в зоне дефекта. Эти дефекты на электронно-микроскопическом изображении видны в результате явления дифракционного контраста. Различная дифракция электронов ка дефектном и недефектном участках кристалла (более сильная или менее сильная) приводит к разной освещенности соответствующих его зон и, как следствие этого, к появлению контраста. Характер контраста зависит не только от природы дефек- [c.156]

Именно в связи с этой задачей наблюдается постоянно возобновляю-ш ийся интерес к феноменологическому изучению кинетических закономерностей в последние десятилетия. Молекулярная интерпретация кинетики химических процессов в свою очередь проливает свет па химическое строение реагируюп1,их молекул. Полученные таким образом выводы о молекулярной структуре вещества необходимо приводить в соответствие с различными характеристиками строения вещества, например величиной дипольпого момента данными по дифракции электронов и рентгеновских лучей, законами стереохимии. [c.15]

Предположение де Бронля о наличии у электрона волновых свойств получило экспериментальное подтверждение уже в 1927 г., когда К- Д. Девиссоном и Л. X. Джермером в США, Дж. П. Томсоном в Англин и П. С. Тартаковским в СССР независимо друг от друга было установлено, что прн взаимодействии пучка электронов с дифракционной решеткой (в качестве которой использовались кристаллы металлов) наблюдается такая же дифракпион-ная картина, как и при действии на кристаллическую решетку металла пучка рентгеновских лучей в этих опытах электро вел себя как волна, длпна которой в точности совпадала с вычисленной по уравнению де Бройля. В настоящее время волновые свойства электронов подтверждены большим числом опытов и широко используются в электронографии — методе изучения структуры веществ, основанном на дифракции электронов. [c.70]

Немецкие физики Дж. Франк и В. Эльзассер не согласились со своими американскими коллегами, предположив, что максимумы обусловлены дифракцией электронов. Разрешить спор помог случай. [c.21]

Предположение де Бройля в дальнейшем подтвердилось — была обнаружена дифракция электронов. При прохождении пучка электронов через дифракционную решетку на фотопластинке наблюдается такая же дифракционная картина, как и при прохождении излучения с длиной волны, равной значению "к, вычисленному по уравнению (1.23). Е> качестве дифракционной решетки использовали кристаллы металлов (атомы в кристаллах расположены в правильном поряд Ге, образуя естественную дифракционную решетку). Впервые оп Бгты, обнаружившие дифракцию электронов, были проведены в 1927г. Девиссоном и Джермером (США), [c.17]

В настоящее время дифракция электронов широко используется для изучения структуры веществ. Установка, в которой наблюдается это явление — электронограф — стала обычным прибором в физико-химических лабораториях. Для структурных исследований применяется также дифракция нейтронов. Была изучена дифракция атомов гелия, молекул водорода и других частиц. Таким образом, двойственная корпускулярно-волновая природа микрообъ-ектов является надежно установленным фактом. [c.17]

Однослойные углеродные ианотрубки средним диаметром 1.2-1.4 нм были исследованы после обработки высоким давлением 9.5-15 ГПа и температурой до 1500°С. Были использованы спектроскопия КРС, рентгеновская дифракция, электронная микроскопия высокого разрешения. Также были измерены плотность образцов и их твердость. Рентгеновские дифракционные картины обработанньге давлением образцов, также как и исходного материала, не содержат отчетливых пиков, поскольку трубки не были упорядочены. В то же время, отсутствие характерного для аморфного углерода пика в области межплоскостных расстояний [c.62]

Для исследования структуры кристаллов применяют также электронографию. Поскольку электроны задерживаются веществом значнте.чьно сильнее, чем рентгеновские лучи, при электронографическом изучении твердых тел исследуют п1)охождение электронов через очень тонкие слои вещества, или изучают дифракцию электронов при отражении их от поверхности. Последний метод ценен тем, что он дает возможность определять структуру тонких поверхностных слоев, например, покрывающих металлы плепок оксидов, нитридов и других соедипений. [c.144]

Фазовый состав катализаторов. Для общего фазового анализа катализаторов используются в основном два метода — рентгенография и дифракция электронов (электронография), хотя для некоторых специальных задач могут применяться и другие физические методы — магнитной восприимчивости, термография, ЭПР, различные виды спектроскопии. Практически наиболее широко применяется рентгенография, основанная иа дифракции характеристического рентгеновского излучения на поликристаллических образцах. Каждая фаза имеет свою кристаллическую решетку и, следовательно, дает вполне определенную дифракционную картину. На дебаеграмме каждой фазе соответствует определенная серия линий. Расположение линий на дебаеграмме определяется межплоскостными расстояниями кристалла, а их относительная интенсивность эависит от расположения атомов в элементарной ячейке. Межплоскостные расстояния d вычисляются по уравнению Брэгга—Вульфа [c.379]

Для изучения фазового состава поверхностного слоя катализаторов пользуются методом электронографии [27], так как глубина проникновения электронных лучей гораздо меньше рентгеновских и составляет величину порядка десятков и сотен ангстрем. Этот метод является также полезным при исследовании процесса образования новых фаз, когда количество новой фазы незначительно и кристаллы имеют малые размеры. В этом случае интенсивность рентгеновских рефлексов ничтожно мала и они теряются на фоне рентгенограммы, в то время как электронограмма дает отчетливую картину. Определение фазового состава поликристаллических веществ методом дифракции электронов обычно проводится по их межплоскостным расстояниям, рассчитываемым в свою очередь по формуле Брэгга—Вульфа. Точность определения межплоскостных расстояний по электро-нограммам значительно меньше, чем рентгеновским методом. [c.381]

Методом дифракции электронов было установлено, что атомы кислорода в молекуле озона не располагаются на одной прямой и валентный угол равен 127°. Длины связей О—О о.чмшковы и равны 0,127 нм, т. е. имеют средние значение между длинами ор.ишарной (0,132 нм) и двойной (0,110 нм) связей. [c.27]

Строение бензохииона подтверждено рентгеноструктурным анализом методом дифракции электронов определены длины связей и валентные углы в его молекуле. Ниже приведены длины связей в молекулах бензохииона и некоторых других соединений (в нм) [c.87]

Наряду с рентгенографическим анализом следует упомянуть методы дифракции электронов и иейтронов. Однако электроно- [c.112]

С помощью электронографического анализа можно в принципе решать те же задачи, что и рентгенографическим анализом исследование кристаллической структуры, проведение фазового анализа, определение межплоскостных расстояний и периодов решетки, определение текстуры и ориентировки кристаллов и т. д. Однако особенности волновых свойств пучка электронов обусловливают и определенную специфику их использования, а также преимущества и недостатки по сравнению с рентгенографическим методом исследования кристаллов. Преимущество электронограмм заключается прежде всего в том, что в связи с малой длиной волны и сильным взаимодействием электронов с веществом этим методом можно получить резкие и интенсивные рефлексы при меньших размерах кристаллов и-меньшем количестве вещества, чем при рентгенографическом анализе, В рентгенографии, например, расширение линий начинается при р.эзмере частиц 500—900 А, а в электронографии оно становится заметным лишь при размерах 20—30 А. Интенсивность электронного луча гораздо больше, а необходимая экспозиция гораздо меньше, чем рентгеновских лучей, что дает существенные методические преимущества. Интенсивность отражений при дифракции электронов обычно настолько велика, что позволяет визуально на флюоресцирующем экране наблюдать дифракционную картину. Указанные особенности электронографии делают ее особенно ценной, например, при исследовании зародышей новых фаз. Электронография может использоваться также при изучении положений легких атомов в кристаллической решетке, хотя для этого более пригодна нейтронография, [c.105]

Экспериментальные установки обычйо сочетают проведение в одной и той же вакуумной камере Оже-спектроскопии и измерений дифракции электронов низкой энергии. В результате получается информация как о химическом составе поверхности, так и о ее атомной структуре. Для изучения геометрической структуры поверхности используют электронный сканирующий микроскоп. Принцип действия этого прибора аналогичен передаче телевизионного изображения, только здесь на исследуемый объект направляется сфокусированный пучок электронов, а детектируется интенсивность отраженных электронов, которая затем передается на экран электронно-лучевой трубки. Движение сфокусированного пучка электронов вдоль исследуемого образца синхронизовано с движением луча электронно-лучевой трубки, в результате чего на ее экране получается изображение изучаемой поверхности. Разрешение современных сканирующих микроскопов составляет 5—10 нм. [c.86]

Физическая химия. Т.1 (1980) -- [ c.430 ]

Химия (2001) -- [ c.25 ]

Физическая химия поверхностей (1979) -- [ c.202 , c.225 ]

Краткий курс физической химии Изд5 (1978) -- [ c.44 , c.212 ]

Нестехиометрические соединения (1971) -- [ c.57 ]

Основы органической химии (1983) -- [ c.14 , c.74 , c.99 ]

Рентгеноструктурный анализ Том 1 Издание 2 (1964) -- [ c.177 , c.252 ]

Конформационный анализ (1969) -- [ c.22 , c.169 , c.171 ]

Неорганическая химия (1987) -- [ c.166 ]

Общая химия (1974) -- [ c.25 ]

Трение и смазка эластомеров (1977) -- [ c.39 ]

Основы стереохимии и конформационного анализа (1974) -- [ c.83 , c.104 ]

Применение спектров комбинационного рассеяния (1977) -- [ c.11 , c.281 ]

Как квантовая механика объясняет химическую связь (1973) -- [ c.19 ]

Органическая химия Том 1 (1963) -- [ c.87 ]

Новейшие методы исследования полимеров (1966) -- [ c.227 , c.259 ]

Стереохимия соединений углерода (1965) -- [ c.0 ]

Краткий курс физической химии Издание 3 (1963) -- [ c.45 ]

Краткая химическая энциклопедия Том 2 (1963) -- [ c.506 ]

Основы общей химии Том 2 (1967) -- [ c.294 ]

Основы общей химии Том 2 Издание 3 (1973) -- [ c.85 ]

Органическая химия Том 1 (1962) -- [ c.87 ]

Полимеры (1990) -- [ c.148 , c.150 ]

Физическая химия (1967) -- [ c.506 , c.657 , c.676 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология