Методы, основанные на диффракции рентгеновских лучей

Рентгенография и электронография основаны на диффракции рентгеновских лучей или электронов вследствие отражения от плоскостей, образованных одинаковыми атомами или группами в кристаллической "решетке полимера, как это схематически показано на рис. 91. Диффракция регистрируется на фотопленв е, где получается изображение интерференционных пятен или колец в зависимости от применяемого метода. Для высокомолекулярных соединений применяется метод Дебая — Шерера, при котором снимок делается с порошка, содернгащего большое число беспорядочно располо1кепных мелких кристаллов. При этом отраженные лучи [c.165]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология