Излучение влияние отражающих стенок

Влияние отражающих стенок. Допустим, что в систему с двумя активными поверхностями (подводящей и отводящей тепло) включены адиабатически замыкающие ее поверхности, например, хо- рошо изолированные стенки печи. В данном, случае поверхность р2 получает энергию не только от излучающей поверхности нО еще и часть энергии, адиабатически отраженной стенками. Стенки получают от поверхности р1 тепло, соответствующее коэффициенту 1, я (Я — символ отражающих стенок). Из этого излучения часть Ч н, л после отражения опять падает на стенки (результат вогнутостей, присущих этим стенкам). Доля энергии 1—д отражается на поверхностях р1 и р2. Из этого количества часть 2 падает на стенку / 2. Общее количество тепла, излучаемое поверхностью Рх на поверхность р2 непосредственно и при помощи отражающих стенок, определяется рефракционно-геометрическим коэффициентом формы [c.309]

Так, обычный спектрофотометр для измерений в видимой области снабжен стеклянной оптикой и кюветами стекло начинает поглощать в области 350—400 нм. Кроме того, в таких приборах используют фотоумножители или фотоэлементы с максимумом электрического сигнала в интервале 500—700 нм при 350 нм сигнал может составлять всего 10% (или меньше) максимального. Наконец, в приборах такого типа источником служит вольфрамовая нить, максимум энергии которой соответствует длинноволновой области видимого излучения при 350 нм излучение составляет лишь часть максимального. Эти три фактора лимитируют применение прибора в коротковолновой области чтобы получить значение оптической плотности в этой области, необходимо проводить измерения при максимальном усилении детекторного сигнала, максимальной интенсивности источника и с относительно широкой щелью. Только при этих условиях можно настроить шкалу прибора на 100% пропускания, помещая холостой раствор на пути света. Влияние рассеянного излучения в длинноволновой области в этом случае становится значительно сильнее. Во-первых, усиление мощности источника приводит к увеличению интенсивности рассеянного света во-вторых, при широкой щели повышается вероятность появления рассеянного излучения из монохроматора в-третьих, рассеянное излучение в меньшей степени поглощается стенками кюветы наконец, сигнал детектора от рассеянного излучения возрастает. В результате оптическая плотность, измеренная на таком приборе при 350 нм, может отражать как рассеяние в длинноволновой области, так и то, на которое настроен монохроматор. [c.145]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология