Индукционное намагничивание

Рис. 2.11. Схемы индукционного намагничивания детали в открытой (а) и закрытой (б, в) магнитных цепях

Индукционное намагничивание заключается в возбуждении в проверяемой детали индукционного тока. Схемы индукционного намагничивания показаны на рис. 2.11, 2.18. Проверяемую деталь 1 (см. рис. 2.18) надевают на магнитопровод 2, вставляют в намагничивающее устройство. При прохождении переменного тока по обмотке устройства на деталь действует переменный поток Ф. В результате в детали 1 возбуждается индукционный ток, как в короткозамкнутом витке, и возникает вокруг детали 1 магнитное поле Н. [c.274]

Индукционное намагничивание применяют для выявления кольцевых дефектов, расположенных на торцовых, внутренней и внешней поверхностях детали. [c.274]

Рис. 2.18. Схема устройства для индукционного намагничивания детали

Рис. 2.89. Индукционное намагничивание кольца с применением дефектоскопа МДЛ-2

Рис. 2.90. Положение намагничивающего кольца в дефектоскопе индукционного намагничивания ДИН-1

Образцы первой группы имеют существенное преимущество, которое заключается в том, что дефекты могут быть выполнены идентичными. Образцы для дефектоскопов циркулярного намагничивания выполняют в виде колец (тороидов) с дефектами, направленными по образующей или по радиусу образца. Для проверки работоспособности дефектоскопов индукционного намагничивания дефекты ориентируют на образцах по окружности. Для проверки дефектоскопов продольного [c.392]

Назначение образца определение работоспособности намагничивающих устройств (циркулярного, индукционного намагничивания) и магнитной суспензии. [c.406]

Поместить образец в межполюсное пространство дефектоскопа индукционного намагничивания. Пропустить ток в течение не более 1 с. Вынуть образец и нанести на цилиндрическую поверхность магнитную суспензию. Если над дефектом образуется индикаторный рисунок из осевшего порошка, аналогичный рисунку на дефектограмме (рис. 6.20,1), то дефектоскоп и суспензию считают работоспособными. [c.406]

Схемы расположения блоков при контроле участка хомута показаны на рис. 7.42. Дефектоскоп МДЛ-2 позволяет осуществлять индукционное намагничивание для выявления дефектов, направленных по окружности (рис. 7.43). Основные технические характеристики дефектоскопа МДЛ-2 [c.443]

Рис. 7.43. Положение кольца при индукционном намагничивании дефектоскопом МДЛ-2 для выявления дефектов, направленных по окружности кольца

Справочник химика 21

Химия и химическая технология