Приведение интенсивностей разных рентгенограмм к общей шкале

Если, например, получена рентгенограмма нулевой слоевой линии при вращении вокруг оси X, то пятна 0 0, ОМ, 0к2 и т. д., имеющиеся как на этой рентгенограмме, так и на рентгенограммах, снятых при вращении вокруг оси Z, дают основу для приведения данных разных рентгенограмм к общей шкале. Однако этот способ обладает невысокой точностью, так как интенсивности отдельных отражений, по которым производится приведение, всегда определяются с известной погрешностью. Если кристалл заметно поглощает рентгеновские лучи, то одно и то же отражение, полученное на разных рентгенограммах, может отличаться по интенсивности очень резко вследствие )8зличия факторов поглощения при разных ориентациях кристалла. Лоэтому лучше в качестве эталонной использовать рентгенограмму качания, полученную при той же ориентации кристалла, которая имелась при съемке серии рентгенгониометрических снимков. [c.164]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология