Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Карта сумм с образной маской

    Пока отдельные разности d,(t) случайно рассеиваются под влиянием только сг , кумулятивная сумма остается постоянной во времени. Если в показателях качества появляются отклонения от среднего или заданного значения, они действуют на кумулятивную сумму 0(1) и вызывают ее отклонение от постоянного значения в ty или другую сторону. При правильном выборе масштаба в изображении ку-сумм даже небольшие смещения — где-то в пределах <7 — можно распознать уже через несколько точек. Контрольные карты для таких кумулятивных сумм разностей (метод ку-сумм ) целесообразно строить так, чтобы величина 2<г на оси ординат и временной отрезок между двумя измерениями на оси абсцисс имели одинаковый масштаб. При таком выборе случайные колебания проявятся так, что небольшие смещения ку-сумм в пределах .2<Гх дадут линию под углом 45° относительно горизонтали. Характер прямой линии постоянно проверяется при каждой новой точке на графике с помощью У-образной маски. Для предложенного здесь масштаба по осям абсцисс и ординат угол маски составляет 14°, а последняя, подлежащая проверке, точка находится на расстоянии п = 8 единиц времени от вершины угла. (Для выбора п см. [15].) [c.213]


Рис. 12.2. Метод контрольных карт, а) х — а-карта 6) карта ку-сумм с У-образной проверочной маской. Рис. 12.2. <a href="/info/430742">Метод контрольных</a> карт, а) х — а-карта 6) карта ку-сумм с У-образной проверочной маской.

Статистика в аналитической химии (1994) -- [ c.214 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Мак-Карти

карты

образный



© 2025 chem21.info Реклама на сайте