Использование спектроскопических данных для определения

Структурное использование рефрактометрического метода будет демонстрироваться на примере таких объектов, где дифракционные или спектроскопические методы по разным причинам не могут дать исчерпывающей информации о строении вещества. Причины эти могут быть как методического характера, например отсутствие подходящих монокристаллов, трудность определения местоположения легких атомов в присутствии тяжелых, сложность получения или расшифровки колебательных спектров и т. п., так и чисто химического свойства — взаимное влияние атомов непосредственно проявляется в электронных характеристиках вещества и, следовательно, измерение электронной поляризуемости молекулы или кристалла является наиболее подходящим методом решения такой задачи. [c.165]