Рентгеновская дифракция индексы Миллера

Для каждой кристаллической системы существует математическое соотношение между расстоянием d, индексами Миллера и -размерами осей элементарной ячейки. Если известно, с какой системой имеют дело (что часто довольно трудно установить), то из данных по дифракции рентгеновских лучей можно определить константы элементарной ячейки. Например, для ромбической системы [c.73]

Через точки решетки кристаллической структуры может быть проведено много различных наборов плоскостей, и дифракция рентгеновских лучей от кристалла может быть рассмотрена как отражение пучка лучей от этих плоскостей. Поэтому желательно иметь единый способ описания каждого набора плоскостей. Это можно сделать с помощью индексов Миллера, которые первоначально были введены для индицирования граней кристалла, но которые также хорошо можно использовать для обозначения любой плоскости или набора плоскостей в кристалле. [c.11]

Справочник химика 21