Пропускание, поглощение и отражение света покрытиями

Пропускание, поглощение и отражение света покрытиями [c.127]

Тонкие пленки. Они получили гораздо большее распространение в науке и технике. Помимо широкого использования в оптических устройствах (покрытие зеркал, различные интерференционные я поглощающие фильтры, просветляющие покрытия, защитные покрытия, предотвращающие окисление и повреждение оптических поверхностей, и др.), тонкие пленки в настоящее время применяют для контроля температуры космических объектов, а также в качестве приемников видимого и инфракрасного излучения. Во всех перечисленных случаях весьма важно иметь точные данные об оптических свойствах пленок и прежде всего данные о коэффициентах отражения, пропускания и поглощения света в однослойных или многослойных системах пленок. [c.502]

Можно также контролировать специфические свойства пленок, например поглощение, пропускание и отражение света и интерференционные эффекты, используя оптические измерительные устройства. Толщину пленок проводящих материалов можно контролировать по измерению сопротивления in situ, а толщину покрытий из диэлектрических материалов — по измерению емкости. Дальнейшее усовершенствование большинства таких методов in situ заключается в том, чтобы использовать их для контроля процесса нанесения покрытий. [c.214]