Рентгенодифракционная микроскопия

Отметим попутно, что наиболее часто цитируемые ЭМ данные о размерах микрофибрилл были получены в 40—50-х годах, когда как сами электронные микроскопы, так и методы препарирования зачастую не отличались большим совершенством. Закономерно поэтому, что абсолютные значения размеров микрофибрилл иногда требуют некоторого уточнения, особенно тогда, когда сопоставляют их с данными рентгенодифракционных методов или пытаются установить связь между конкретными физико-химическими свойствами и структурой полимеров. [c.88]

С помощью электронного микроскопа надежные данные о внутреннем надмолекулярном строении фибрилл получены сравн тельно недавно. Основную же информацию об этом строении дают рентгенодифракционные исследования в малых углах. [c.260]

Для аналитических целей можно также применить рентгенодифракционную микроскопию путем учета аномальной прозрачности или аномального уменьшения интенсивности первичного излучения. В последнем случае поглощение рентгеновского излучения в совершенном кристалле может понижаться механическими напряжениями, обусловленными присутствием скоплений нримесей дефектная площадь кристалла будет больше отражать рентгеновское излучение, благодаря чему она становится видимой. [c.396]

На основе всесторонних исследований оптического муара с помощью растров (сеток) А. В. Шубников предсказал возможность получения муара при наложении кристаллических атомных решеток (1926 г.). Его идея была реализована в 1957 г. с помощью электронного микроскопа, а затем в 1965—1968 гг.— с помощью рентгеновской дифракции. Рентгенодифракционный муар кристаллических атомных решеток в 10 раза более чувствительный, чем электронно-микроскопический, и соответственно и его возможности намного шире, особенно при исследованиях реальной структуры высокосовершенных кристаллов. По геометрии легко определяется характер искажения решетки (сжатие — растяжение решеток) — дилатацистшый муар или (поворот решетки) — ротационный муар. С помощью рентгеновского муара можно измерить искажения решетки Аё/с1 К)- и повороты решетки в 10- рад. Еще более расширяются возможности измереш я рентгенодифракционного муара при использовании трехкристального интерферометра. Здесь появляются новые возможности измерения абсолютных величин периодов решетки, длин рентгеновских волн, перемещений в 10- сл и углов поворота 10 рай и т. д. [c.403]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология