Масс-спектрометрия вторичных ионов ядерные взаимодействия

Если мишень бомбардировать ионами средней массы, например, 0+ (М = 16) или Аг+ (М = 40), с энергиями в нижнем килоэлектронвольтном диапазоне, будут преобладать неупругие ядерно-электронные взаимодействия, приводящие к разрыву химических связей поверхностных атомов и распылению этих атомов. Часть распыленных атомов ионизируется на поверхности в процессе удаления. Их регистрация лежит в основе масс-спектрометрии вторичных ионов (МСВИ). Большинство распыленных с поверхности частиц являются, однако, незаряженными частицами (нейтралями). Их можно анализировать после дополнительной ионизации (постионизации нейтральных частиц после испускания их с поверхности). Этот метод называется масс-спектрометрия распыленных нейтралей (МСРН). [c.348]

Справочник химика 21