Масс-спектрометрия вторичных ионов

В катализаторе определяют содержание серебра, щелочноземельных металлов, щелочных металлов и таких вредных примесей, как тяжелые металлы, сера и галогены. Исследование физических свойств включает измерение поверхности методом БЭТ, обычно по криптону из-за малой площади поверхности. Для измерения пористости при контроле качества катализатора можно применять ртутную порометрию, несмотря на известную тенденцию серебра к амальгамированию, так как этот процесс сильно замедляется на окисленной поверхности. Состав поверхности катализаторов определяется современными методами, связанными с использованием высокого вакуума. Из них наиболее важны рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС), масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) и электронная оже-спектроскопия (ЭОС). [c.240]

Для анализа неорганических объектов сложного состава перспективны методы искровой, лазерной и масс-спектрометрии вторичных ионов. Аналитические характеристики этих методов уникальны универсальность (определение 40 элементов) низкий абсолютный (10°—10" г, в некоторых случаях до г) и относительный [до 10 % (ат.)] пределы [c.753]

Спектроскопия рассеяния ионов Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) Магнитная восприимчивость. [c.12]

При изучении разнообразных коллоидно-химических объектов широко используют методы сканирующей и просвечивающей электронной микроскопии. Отметим перспективную методику приготовления реплик быстро замороженных образцов золей, позволяющую фиксировать во вра ени изучаемую картину. В исследованиях строения поверхности эффективно применяют такие современные физические методы, как Оже-спектроскопию, дифракцию медленных электронов, масс-спектрометрию вторичных ионов и др. [c.208]

Масс-спектрометрия вторичных ионов и атомов. Спектрометрия медленных ионов [c.110]

Особое место занимают методы локального анализа. Существ. роль среди них играют рентгеноспектральный микроанализ (электронный зонд), масс-спектрометрия вторичных ионов, спектроскопия оже-электронов и др. физ. методы. Они имеют большое значение, в частности, при анализе поверхностных слоев твердых материалов или включений в горных породах. [c.160]

Относит, пределы обнаружения элементов в Л. а. сильно зависят от применяемого метода (от 10 % в масс-спектрометрии вторичных ионов до 10 % в оже-спектроскопии) и от локальности определений. Однако абс. пределы обнаружений мало зависят от локальности и составляют для мн. методов 10 -10 г, а в методах спектроскопии характеристич. потери энергии электронов достигают 10- [c.611]

Для неорганического анализа можно использовать и масс-спектрометрию вторичных ионов (МСВИ). Однако этот метод применяется в основном для анализа поверхности и локального микроанализа. Поэтому данный метод рассматривается в разд. 10.2. [c.133]

ИВА — инверсионная вольтамперометрия ИОХ — ионообменная хроматография ИПХ — ион-парная хроматография ИС — ионообменные смолы ИСП-АЭС — атомно-эмиссионная спектрометрия с индуктивно-связанной плазмой ИХ — ионная хроматография МСВИ — масс-спектрометрия вторичных ионов [c.94]

МСВИ Масс-спектрометрия вторичных ионов [c.270]

Ионно-зондовые методы имеют чрезвычайно большое значение для анализа поверхности. К наиболее важным методам относятся спектрометрия резерфордовского обратного рассеяния и масс-спектрометрия вторичных ионов. В следующих разделах мы более подробно остановимся на этих методах. [c.348]

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) [c.355]

МАСС-СПЕКТРОМЕТРИЯ ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ) [c.31]

Л. а. субмикронных и поверхностных слоев проводят методами рентгеноспектрального анализа (см. Электронно-зондовые методы), катодолюминесцентного микроанализа, спектроскопии рассеяния быстрых ионов (резерфордовского рассеяния), масс-спектрометрии вторичных ионов в динамич. режиме, оже-спектроскопии и др. При послойном анализе субмикронных слоев без разрушения образец бомбардируют заряженными частицами (электронами, ионами). В зависимости от их энергии меняется глубина, на к-рой происходят процессы, приводящие к появлению аналит. сигнала - рентгеновского излучения, резонансных ядериых р-ций, резерфордовского рассеяния и др. Послойный анализ можно также проводить, варьируя угол отбора, т.е. угол, под к-рым к исследуемой пов-сти располагается приемник аналит. сигнала. [c.610]

МСВИ — масс-спектрометрия вторичных ионов ИНС — ионно-нейтрализационная спектроскопия АИМ — автоионная спектроскопия. [c.223]

Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Если энергия пучка падающих электронов превышает 3 кВ, образуются вторичные ионы, которые можно детектировать масс-спектрометрически (см. [102]). [c.226]

К локальным методам анализа состава вещества наряду с описанными выше методами рентгеноспектрального анализа и методов электронной спектроскопии относится масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ). Главной особенностью метода МСВИ является очень высокая чувствительность — более 10 %. Минимальный объем образца, необходимый для анализа 10- см , глубина анализируемого слоя 10" мкм. Первичный ионный пучок может быть сфокусирован в зонд малого сечения в свою очередь фокусировка вторичных ионов может дать ионное изображение бомбардируемой поверхности. Масс-спектрометрическая фильтрация этого изображения дает картину распределения ионов определенного типа по поверхности объекта. Форсируя режим бомбардировки, можно удалять поверхностные слои и проводить послойный анализ. [c.580]

Все методы, рассмотренные выще (за исключением полевой десорбции), относятся к ионизации компонентов нефти в газовой фазе, что ограничивает их применение лищь к летучим компонентам. Принципиально новыми методами, позволяющими анализировать нелетучие компоненты, являются методы масс-спектрометрии вторичных ионов, электрогидродинамической масс-спектрометрии и масс-спектрометрии с бомбардировкой анализируемых веществ быстрыми атомами. Первый из этих методов [207], еще ожидающий своего применения к анализу компонентов нефти, является комбинацией полевой десорбции и химической ионизации. [c.136]

Для H.a. примешпот методы рентгенофлуоресцентного, активационного, рентгенорадиометрич. анализа и др. Когда спец. подготовки образца х анализу не требуется, H.a. можно проводить методами локального анализа (ионный микроанализ, электронно-зондовые методы, методы фотоэлектронной и рентгеноэлектронной спектроскопии, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.). [c.220]

Рентгенофлуоресцентная спектрометрия (РФС) Фотоэлектронная спектрометрия (ФЭС) Электронная оже-спек-трометрия (ЭОС) Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) Лазерно-индуцированная флуоресцентная спектрометрия (ЛИФС) Атомно-эмиссионная спектрометрия (АЭС) [c.7]

Масс-спектрометрия применяется очень широко можно выделить четыре основные области ее использования. В данной главе рассматривается аналитическая масс-спектрометрия органических соединений. Применение масс-спектрометрии для неорганического анализа уже обсуждалось вьш1е (см. разд. 8.5). Неотъемлемой частью масс-спектрометрических процессов являются газофазные ионные реакции, которые, очевидно, можно использовать в аналитических целях, но также и для исследований, касающихся, например, выяснения механизмов реакций в органической химии (это отдельная область органической масс-спектрометрии). И наконец, масс-спектрометрию можно использовать для анализа поверхности (например, масс-спектрометрия вторичных ионов) [c.255]

Анализ с помощью ядерных реакций (КРА), активационный анализ заряженных частиц (СРАА) Масс-спектрометрия вторичных ионов (МСВИ) [c.347]

Если мишень бомбардировать ионами средней массы, например, 0+ (М = 16) или Аг+ (М = 40), с энергиями в нижнем килоэлектронвольтном диапазоне, будут преобладать неупругие ядерно-электронные взаимодействия, приводящие к разрыву химических связей поверхностных атомов и распылению этих атомов. Часть распыленных атомов ионизируется на поверхности в процессе удаления. Их регистрация лежит в основе масс-спектрометрии вторичных ионов (МСВИ). Большинство распыленных с поверхности частиц являются, однако, незаряженными частицами (нейтралями). Их можно анализировать после дополнительной ионизации (постионизации нейтральных частиц после испускания их с поверхности). Этот метод называется масс-спектрометрия распыленных нейтралей (МСРН). [c.348]

И молекулярной масс спектрометрии вторичных ионов (МСВИ) поверх иосгь мишени с образцом бомбардируется пучком первичных ионов (чаще (ГО Аг+) с энергией 2—20 кэВ под определенным углом Вторичные ионы образующиеся в результате бомбардировки, отбираются под другим углом и направтяются в масс анализатор [c.15]

Соединение жидкостной хроматографии и масс спектрометрии было несбыточной мечтой многих исследователей с самого на чала работ по хромато масс спектрометрии С одной стороны, ЖХ незаменима при анализе многих биологических объектов, термически нестабильных и нелетучих соединений, которые не разделяются с помощью газовой хроматографии, с другой сто роны, обычные детекторы для ЖХ не обладают достаточной гибкостью и универсальностью Однако непосредственное соединение ЖХ с МС долгое время не удавалось, так как эти методы сочетаются гораздо труднее и возникающие проблемы на несколько порядков сложнее чем в ГХ—МС В то же время достаточно хорошие результаты получали при раздельном применении обоих методов с независимым отбором элюируемых фракций из ЖХ колонки, выпариванием растворителя и пере носом вещества в систему напуска масс спектрометра В этом случае жидкостной хроматограф и масс спектрометр работают независимо друг от друга в своем оптимальном режиме Мож но использовать любые ЖХ системы с любыми элюентами и специальные методы масс спектрометрии, разработанные для анализа малолетучих и термически нестабильных веществ такие как ПД, лазерная десорбция, ДХИ плазменная десорбция инициируемая продуктами распада i, масс спектрометрия вторичных ионов и др Отбор фракций и испарение раствори теля могут быть автоматизированы, труднее, правда, осуществить автоматический перенос их и ввод в масс спектрометр [44] Однако практически невозможно создать коллектор фракций для очень сложных смесей неизвестного состава таких, как биологические жидкости, природные масла нефтяные фракции и т п Отбор фракций невозможен и в случае быстро элюирующихся пиков, например, на современных колонках для ВЭЖХ с эффективным числом теоретических тарелок до 50000 Непосредственное соединение ЖХ с МС, аналогичное ГХ— МС, обеспечивает значительное сокращение времени анализа, позволяет осуществлять количественный анализ и селективное детектирование выбранных ионов, использовать математические методы обработки данных для разделения неразрешенных пи ков Поэтому поиск удовлетворительных интерфейсов для непосредственного соединения ЖХ и МС начался еще в 1960 х годах [c.33]

Пожалуй, одним из самых больших достоинств этой системы является возможность соединит1> ее с методами ионизации, эффективными для нелетучих веществ такими, как полевая и лазерная десорбция, масс спектрометрия вторичных ионов и др Она может служить в этих случаях не только интерфейсом для соединения ЖХ и МС, но и удобной системой ввода нелетучих образцов в масс спектрометр [c.42]

Она включала тройной квадрупольный масс спектрометр с ионным источником для получения масс спектров вторичных ионов, который позволял также работать в режиме электро ударной ионизации и термодесорбции Использование масс-спектрометрии вторичных ионов в сочетании с ленточным интерфейсом предъявляет ряд требований отличных от требо ваний к обычным ЖХ—МС приборам Они заключаются в возможности сохранения образцов для повторного анализа Основ ной частью интерфейса является лента шириной 0 63 см толщиной О 008 см и длиной 320 см образующая непрерывную петлю Было найдено, что приемлемыми механическими свойст вами для изготовления ленты обладают высокочистые молибден, никель и платина Использовалась лента из никеля [c.43]

Стали доступными тонкие методы исследования состава и структуры поверхности твердых тел (Оже-элекгронная спектроскопия, рентгеновская и ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия, спектроскопия дальней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения, масс-спектрометрия вторичных ионов и др.), в немалой степени обусловившие бурное развитие микроэлектроники в последние десятилетия. [c.4]

Анализ распределения основных и следовых элементов в полупроводниковых слоях различных матриц при использовании масс-спектрометрии вторичных ионов (SIMS) 1987, V. 59, №2. Р 229-244 [c.9]

RM сертифицированный образец (материал) SSMS масс-спектрометрия вторичных ионов [c.78]

Обозначения методов определения ААС — атомно-аб-сорбционная спектрометрия АЭС — атомно-эмиссионная спектрометрия ВА — вольтамперометрия ИВА — инверсионная вольтамперометрия МСВИ — масс-спектрометрия вторичных ионов П — потенциометрия Т — титриметрический анализ Тб — турбинометрия Ф — фотометрия Фл — флуориметрия. [c.103]

Значительный раздел масс-спекгрометрии составляет элементный анализ твердых веществ. Прежде чем осушествить ионизацию, необходимо перевести эти вещества в атомное состояние. Для этого требуются достаточно высокие затраты энергии, и те источники, которые используют для этой цели, обеспечивают одновременно атомизацию и ионизацию твердых веществ. Среди наиболее распространенных источников ионизации можно выделить искровой электронный разряд, излучение лазера и поток ускоренных первичных ионов. Им соответствуют три вида масс-спектрометрического анализа твердых тел искровая, лазерная и ион-ионная, или масс-спектрометрия вторичных ионов. Наибольшее число определений проводится методом искровой масс-спектрометрии. [c.373]

В ион-ионной масс-спектрометрии, или, как ее также называют, масс-спектрометрии вторичных ионов, для ионизации исследуемого вещества используют первичные ионы аргона, кислорода или Дфугих веществ, которые получают и разгоняют в ионной щапке. Пучок этих ионов фокусируют и бомбардируют ими анапизнруемый образец. Образующиеся при этом вторичные новы регистрируют. Этот метод удобен для изучения и локального анализа поверхности, поскольку возникающий при [c.374]

В псх ледиее время в ВЭЖХ-МС получила распространение также тенденция сочетать метод переноса на движущейся ленте с методами, включающими ионизацию на поверхности, например масс-спектрометрию вторичных ионов (МСВИ) [22, 23], бомбардировку быстрыми атомами (ББА) [24] и лазерную десорбцию [25] При применении этих методов упомянутые выше ограничения метода движущейся леиты, связанные с возможностью термического разложения определяемых соединений в процессе удаления растворителя, могут быть почти полностью устранены [c.134]

В реактантном газе должно составлять 0,1%. При таком соотношении очень мало количество первичных ионов, образующихся при ионизации электронным ударом исследуемого органического соединения. Однако в результате соударений органических молекул с вторичными стабильными ионами газа-реактанта образуются третичные ионы, представляющие интерес для органической масс-спектрометрии. Вторичные ионы являются сильными кислотами Льюиса, и при образовании третичных ионов они либо присоединяют протон от газа-реактанта, либо отщепляют гидрид-ион. Химическую ионизацию ацетона в метане, которая состоит в переносе протона от вторичного иона СН5+ к ацетону, можно представить схемой (5.21). Предполагается, что в третичном ионе, молекулярный вес которого на единицу больше, чем ацетона, нротонирован атом кислорода. Этот третичный ион называется квазимолекулярным (КМ+). , [c.225]

Аналитическая химия Том 2 (2004) -- [ c.2 , c.355 ]

Возможности химии сегодня и завтра (1992) -- [ c.237 , c.239 ]

Молекулярный масс спектральный анализ органических соединений (1983) -- [ c.177 ]

Инструментальные методы химического анализа (1989) -- [ c.455 ]

Введение в мембранную технологию (1999) -- [ c.0 ]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология