Сканирующая зондовая микроскопия сканирующая оптическая микроскопия

Методом зондовой сканирующей микроскопии можно проводить комплексное изучение поверхности полимеров для оценки пространственного распределения эластичности, магнитных, электрических, оптических и химических характеристик поверхности [12]. При наличии спектрометра рентгеновского излучения, снабженного компьютерной системой, можно осуществить количественный элементный анализ пробы с разрешением I мкм. [c.358]

Методом зондовой сканирующей микроскопии можно пров< дить комплексное изучение поверхности полимеров для оценки пр( странственНого распределения эластичности, магнитных, электрич ских, оптических и химических характеристик поверхности [12]. Пр наличии спектрометра рентгеновского излучения, снабженного кок пьютерной системой, можно осуществить количественный элемент ный анализ пробы с разрешением 1 мкм. [c.358]