Сканирующая зондовая микроскопия

МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ (СЗМ) [c.368]

Высокие локальные электрические поля на поверхности материала могут привести к процессам ионизации либо газов, контактирующих с поверхностью, либо атомов самого материала. Эти процессы составляют основу полевой ионной микроскопии (ПИМ) и ПИМ с атомным зондом. Другое влияние высоких локальных полей заключается в эффекте индуцирования электрических токов, который лежит в основе сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). В принципе, различные методы сканирующей силовой микроскопии, наиболее важным из которых является атомная силовая микроскопия (АСМ), также принадлежат к этой группе, поскольку измеряемые силы тоже возникают в результате действия локализованных электрических полей. В табл. 10.4-1 приведен обзор полевых зондовых методов. Однако благодаря уникальным свойствам СТМ и АСМ эти методы рассмотрены отдельно в разд. 10.5 ( Методы сканирующей зондовой микроскопии ). [c.365]

Термин сканирующая зондовая микроскопия объединяет группу методов, в которых производится сканирование тонким зондом (обычно острием иглы) поверхности образца при помощи пьезоэлектрических преобразователей. Сигнал, измеряемый при помощи этого локального зонда, записывают как функцию от пространственного положения зонда. В качестве аналитического сигнала, формируемого при помощи зонда, можно использовать, например [c.368]

Большинство выпускаемых современных сканирующих зондовых микроскопов представляют собой туннельные и атомно-силовые, совмещенные в одном корпусе [1]. [c.304]

SPM сканирующая зондовая микроскопия [c.23]

Наряду с СТМ атомная силовая микроскопия (АСМ) является важнейшим методом сканирующей зондовой микроскопии. [c.374]

Сканирующая зондовая микроскопия 55 [c.55]

Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) [c.369]

Метод АСМ принадлежит к группе методов сканирующей силовой микроскопии (ССМ), основанных на измерении различных сил (например, притяжения, отталкивания, магнитных, электростатических и вандерваальсовых). Наряду с СТМ атомная силовая микроскопия, предложенная в 1986 году [10.5-11], является важнейшим и наиболее широко используемым методом сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). [c.374]

Перечислите основные характеристики методов сканирующей зондовой микроскопии. [c.387]

Сканирующая зондовая микроскопия включает в себя туннельную и атомно-силовую микроскопию. Эти методы позволяют проводить исследования поверхности на атомном, молекулярном или нанокластерном уровне. [c.54]

Зондовая микроскопия. В последнее десятилетие ддя изучения свойств наноматериапов используют методы сканирующей зондовой микроскопии с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и сканирующего атомно-силового микроскопа. [c.303]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология