Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ)

МЕТОДЫ СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ (СЗМ) [c.368]

Высокие локальные электрические поля на поверхности материала могут привести к процессам ионизации либо газов, контактирующих с поверхностью, либо атомов самого материала. Эти процессы составляют основу полевой ионной микроскопии (ПИМ) и ПИМ с атомным зондом. Другое влияние высоких локальных полей заключается в эффекте индуцирования электрических токов, который лежит в основе сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). В принципе, различные методы сканирующей силовой микроскопии, наиболее важным из которых является атомная силовая микроскопия (АСМ), также принадлежат к этой группе, поскольку измеряемые силы тоже возникают в результате действия локализованных электрических полей. В табл. 10.4-1 приведен обзор полевых зондовых методов. Однако благодаря уникальным свойствам СТМ и АСМ эти методы рассмотрены отдельно в разд. 10.5 ( Методы сканирующей зондовой микроскопии ). [c.365]

Методы сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) [c.369]

Наряду с СТМ атомная силовая микроскопия (АСМ) является важнейшим методом сканирующей зондовой микроскопии. [c.374]

Перечислите основные характеристики методов сканирующей зондовой микроскопии. [c.387]

Термин сканирующая зондовая микроскопия объединяет группу методов, в которых производится сканирование тонким зондом (обычно острием иглы) поверхности образца при помощи пьезоэлектрических преобразователей. Сигнал, измеряемый при помощи этого локального зонда, записывают как функцию от пространственного положения зонда. В качестве аналитического сигнала, формируемого при помощи зонда, можно использовать, например [c.368]

Методом зондовой сканирующей микроскопии можно проводить комплексное изучение поверхности полимеров для оценки пространственного распределения эластичности, магнитных, электрических, оптических и химических характеристик поверхности [12]. При наличии спектрометра рентгеновского излучения, снабженного компьютерной системой, можно осуществить количественный элементный анализ пробы с разрешением I мкм. [c.358]

Однако в период становления диффузионной теории это и не могло быть сделано, поскольку отсутствовали экспериментальные методы получения соответствующих параметров и прямого исследования процессов формирования и разрушения соединений. В настоящее время эта задача частично решена. Разработана методология получения диаграмм фазового состояния, измерения коэффициентов взаимо- и самодиффузии, определения межфазного натяжения в расплавах полимеров [270] и т. д. Один из перспективных методов, появившихся в последние годы [380] и позволяющих комплексно решать задачи формирования и разрушения адгезионных и аутогезионных соединений, связан с применением аналитической электронной микроскопии, включающей использование сканирующей, просвечивающей электронной микроскопии и рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа. [c.254]

Распространенными методами определения коэффициентов диффузии и проницаемости являются сорбционно-десорбционный (с применением весов Мак-Бена), интерференционный (по интерференции света определяется граница продвижения вещества в пленке), микроскопический (определяется фронт поляризации света под микроскопом), метод фазовой границы с применением вертикального оптиметра, сканирующей и отражательной микроскопии, электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа (для пленок радиационностойких полимеров) [38, с. 198, 256]. [c.119]

Метод АСМ принадлежит к группе методов сканирующей силовой микроскопии (ССМ), основанных на измерении различных сил (например, притяжения, отталкивания, магнитных, электростатических и вандерваальсовых). Наряду с СТМ атомная силовая микроскопия, предложенная в 1986 году [10.5-11], является важнейшим и наиболее широко используемым методом сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). [c.374]

Зондовая микроскопия. В последнее десятилетие ддя изучения свойств наноматериапов используют методы сканирующей зондовой микроскопии с помощью сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) и сканирующего атомно-силового микроскопа. [c.303]

Сканирующая зондовая микроскопия включает в себя туннельную и атомно-силовую микроскопию. Эти методы позволяют проводить исследования поверхности на атомном, молекулярном или нанокластерном уровне. [c.54]

Интерес к исследованию молекулярных ансамблей фотосенсибилизаторов, нанесенных на различные подложки, связан с возможной функциональной активностью формирующихся при этом наноструктур, тем более, что современные методы сканирующей зондовой (атомно-силовой, туннельной, магнитной) микроскопии могут давать прямую информацию о структурной организации таких систем. Так, в [1] использование метода сканирующей туннельной микроскопии позволило выявить особенности супрамолекулярной агрегации на поверхности (111) золота молекул замещенного тетрафенилпорфирина, содержащих инициирующие такую агрегацию цианофениль-ные заместители. Отметим также, что интерес к фотогенерации синглетного кислорода в различные среды связывается в последнее время с возможностью инициирования реакций фотосенси-билизированного окисления биологически активных субстратов и с проблемой фотодинамической терапии в медицине. [c.104]

Поверхность представляет собой междисциплинарный объект, изучение которого имеет собственную специфику в каждой из естественных наук. Отсюда вытекает деление науки о поверхности на такие области, как физика, химия, биология и механика поверхности. В каждой из этих частных областей можно выделить приоритетные направления. К таким направлениям, на наш взгляд, относятся в области биологии — мембранология, поверхность живой клетки, биоаффинные взаимодействия, молекулярное распознавание в области физики — аппаратурные методы исследования поверхности (РФЭ-, Оже-, ЯМР-спектроскопия, атомно-силовая и сканирующая туннельная микроскопия, зондовые методы), нанотехнология и наноэлектроника, физика поверхности полупроводников и пленочных материалов в области вычислительной математики и информатики — математическое моделирование поверхности в геологии — течение флюидов в порах породы в химии — избирательная сорбция, катализ, коррозия и, наконец, химическое модифицирование поверхностей. Этому последнему направлению и посвящена настоящая книга. [c.10]

Методом зондовой сканирующей микроскопии можно пров< дить комплексное изучение поверхности полимеров для оценки пр( странственНого распределения эластичности, магнитных, электрич ских, оптических и химических характеристик поверхности [12]. Пр наличии спектрометра рентгеновского излучения, снабженного кок пьютерной системой, можно осуществить количественный элемент ный анализ пробы с разрешением 1 мкм. [c.358]