ИК спектры продуктов кристаллизации стекол системы

Во всех работах, связанных с изучением структуры и свойств силикатных стекол, а равно в производстве стекла диаграмма состояния является основным руководящим документом для физиков, химиков и технологов. Она должна отражать всю совокупность устойчивых кристаллических силикатов, которые могут существовать в данной системе. Вполне очевидно, что от степени точности и полноты этого документа зависит успех в решении многих как теоретических, так и практических задач. Существующие диаграммы состояния простейших систем были установлены методами, возможности которых ограничены. Что нее касается изучения продуктов кристаллизации простейших силикатных стекол рентгеноскопическим методом, то, насколько нам известно, систематических исследований в этом направлении ранее не производилось. Поэтому применяемые в настоящее время диаграммы состояния простейших систем, на которых основываются в своей работе исследователи крупнейших институтов мира и заводов оптического и технического стекла, являются неполными. Они, как показывает опыт исследования спектров продуктов кристаллизации стекла, не регистрируют значительного количества силикатов, которые действительно существуют в данной системе и могут принимать участие в формировании структуры стекла. [c.40]

Стекло неоднородно, о чем свидетельствует изучение многих его свойств. В частности, исследование инфракрасных спектров продуктов кристаллизации стекол системы ЫагО — 5102, показало [4, стр. 155], что в нем существуют или первично образуются метастабильные силикаты, не предусмотренные равновесной диаграммой состояния. [c.87]

Справочник химика 21

Химия и химическая технология