Справочник химика 21

Химия и химическая технология

Статьи Рисунки Таблицы О сайте English

Плоскость изображения максимального приближения

    При наличии гониометрического столика объекта (а при его отсутствии с помощью стереомеханизма) можно в довольно широких пределах изменить ориентацию образца относительно освещающего пучка и изменять действующие отражения. Для определения ориентации самой фольги (определение индексов плоскости, параллельной поверхности фольги) выгодна точная ориентация зоны (параллельность оси зоны освещающему пучку). При этом на электронограмме должно быть симметричное расположение рефлексов (по числу и по интенсивности). Формирование микроскопического изображения связано с действием большого числа отражений, поэтому дифракционный контраст оказывается низким. Максимальный контраст светлопольного изображения наблюдается при действии какого-либо одного сильного отражения, хотя при этом могут быть невидимыми некоторые детали изображения (прежде всего дислокации, для которых вектор Бюргерса параллелен отражающей плоскости или Ьг = 0). Точное вульф-брэгговское (В—Б) положение для какого-либо отражения можно легко установить, если кристалл достаточно толст и совершенен. В этих случаях наблюдаются так называемые линии Кикучи. Линии Кикучи представляют собой области усиления и соответственно ослабления интенсивности фона из-за того, что электроны, диффузно рассеянные от верхней части кристалла, при дальнейшем прохождении через толстый кристалл испытывают дифракционное рассеяние (рис. 157, а). В первом приближении можно рассматривать линии Кикучи как результат отражения электронов, [c.283]



Двойной слой и кинетика электродных процессов (1967) -- [ c.11 , c.12 , c.43 , c.50 , c.75 , c.78 , c.128 ]




ПОИСК





Смотрите так же термины и статьи:

Плоскость изображения

Приближение



© 2025 chem21.info Реклама на сайте