Светлопольный метод

Различают прямые и косвенные методы исследования. К прямым методам относятся светлопольный и темнопольный способы работы на просвет, а к косвенным — исследование способом реплик. [c.132]

Наиболее универсальным является обычно применяемый светлопольный метод, при помощи которого можно исследовать препараты, приготовленные любым из описанных в главе II способов. Темнопольный метод в принципе пригоден для изучения как кристаллических, так и аморфных тел, однако на современном уровне развития электронной микроскопии его целесообразно применять почти исключительно для изучения кристаллических препаратов. Остальные методы предназначены для исследования кристаллов (или для препаратов, содержащих достаточно ярко выраженные элементы кристаллической структуры), причем для осуществления, метода муара необходимо подбирать определенным образом ориентированные друг относительно друга кристаллы с некоторыми оптимальными значениями толщин и параметров кристаллической решетки. Несмотря на некоторые ограничения, эти методы вполне заслуживают право на самостоятельное существование. Микродифракция является сочетанием электронной дифракции [c.15]

Среди разнообразных методов исследования при помощи электронного микроскопа просвечивающего типа можно выделить группу методов, различающихся условиями образования изображения. К этой группе целесообразно отнести светлопольный и темнопольный методы, метод муара и микродифракцию. [c.15]

Отсюда ясно, чтс при исследовании по светлопольному методу Кристаллических препаратов только па основании степени почернения на микрофотографиях нельзя делать однозначных выводов о толщине отдельных участков препарата. [c.20]

Далее следует указать на стереоскопию и на ряд методов, основанных на различных воздействиях на препарат нагревание и охлаждение объектов в электронном микроскопе, метод газовой камеры. Вероятно, в скором времени к их числу будет целесообразно добавить метод механического воздействия на объект в камере электронного микроскопа. Несколько работ в этом направлении уже опубликовано, однако полученные результаты пока не имеют сколько-нибудь принципиального научного значения. В известной степени эти методы можно сочетать с методами, указанными ранее. Так, например, химические или физические изменения препаратов, происходящие в результате их нагревания в микроскопе в вакууме или в атмосфере газа, обычно фиксируются при помощи светлопольной микроскопии и микродифракции. [c.16]

Эти особенности дают возможность выявлять различные элементы микроструктуры, которые были по-разному вытравлены при подготовке шлифа. Приемы и методы М. а. разнообразны. При светлопольном освещении шлиф располагают перпендикулярно к оптической оси микроскопа (рис.). В микроскопе свет из источника направляется конденсором в плоскость апертурной диафрагмы, [c.802]

Морфология катализаторов может быть определена также методом просвечивающей электронной микроскопии, основанной на просвечивании тонкого слоя катализатора пучком высокоэнергетических электронов. Схема формирования светлопольного и темнопольного изображения в методе ПЭМ представлена на рис. 3. Прощедшие через тонкопленочный образец катализатора электроны фокусируются на плоскость апертуры с помощью объектной линзы, а их увеличенное изображение детектируется на плоскости изображения, например на фоточувствительной бумаге. Кратность увеличения (до одного миллиона раз), и, как следствие, разрешающая способность метода определяется, прежде всего, ускоряющим напряжением первичного пучка электронов. С другой стороны, чем выше ускоряющее напряжение, тем выше температура просвечиваемого образца. В случае катализаторов это может приводить к перегреву поверхности и трансформации каталитически активных фаз в стабильные, но неактивные фазы, что будет делать проведение последующих ПЭМ измерений, мягко говоря, ненужным занятием. Поэтому, в настоящий момент в каталитических исследованиях широко [c.14]

Сталлами. Однако это ограничение редко встречается в работе с полимерными материалами. Система двух диафрагм имеет одно существенное преимущество перед методом центрального освещения. Оно состоит в том, что в первом методе соответствие между образцом и иммерсионной жидкостью устанавливается при резкой наводке на образец, тогда как во втором случае для наблюдения линии Бекке микроскоп приходится выводить из фокуса. Это не только увеличивает чувствительность сравнения, но и позволяет проводить тонкие исследования локальных изменений показателя преломления в образце. Благодаря этому метод двойного диафрагмирования дает возможность различать отдельные детали образца на основании небольших изменений показателя преломления. В этом методе микроскоп работает по принципу фазово-контрастного микроскопа, который улучшает видимость частиц, немного отличающихся от окружающей их среды только показателем преломления или толщиной. Для некоторых исследований метод двойной диафрагмы может превосходить метод фазового контраста. Промышленные фазово-контрастные микроскопы дают чрезвычайно контрастные изображения с ярким ореолом вокруг частиц, отличающихся от окружающей их среды. Ореол и крайняя степень контрастности изображения уменьшают число наблюдаемых деталей, тогда как метод косого освещения с двойной диафрагмой дает более мягкое изображение с большим числом деталей. Последний метод особенно удобен для исследования волокон или стержневидных образцов, которые легко расположить под определенным углом к щели между диафрагмами. Метод двух диафрагм осуществляли как с петрографическим, так и со сложным светлопольным микроскопом. Точная юстировка диафрагм возможна почти для всех сложных микроскопов. [c.264]

При работе по светлопольному методу часть электронов беспрепятственно проходит через апертурную диафрагму объективной линзы и в виде прямого неотклоненного луча падает на флюоресцентный экран. Электроны же, попавшие при прохождении объекта на плотные кристаллические участки и рассеянные последними, до флюоресцирующего экрана не доходят и в создании конечного изображения не участвуют. Лучи, беспрепятственно дошедшие до экрана, обусловливают возникновение на нем светлого фона, окаймляющего темные места — участки, отвечающие по форме плотным частичкам объекта. При светлопольном методе достигается максимальное увеличение для данного микроскопа. [c.132]

Комплексное исследование сферолитов в тонких пленках найлона нри помощи электронной микроскопии и микродиф-ракции было проведено Скоттом [62]. Обычным светлопольным методом была изучена морфология сферолитов, тогда как тем-нонольный метод позволил наблюдать рост и разветвления дискретных кристаллических областей. Дифракционные исследования показали, что в образцах молекулы были упакованы в плоские листки с водородными связями, ориентированными в плоскости пленки. Какого-либо преимущественного направления ориентации сферолитов не наблюдалось. [c.260]

Методы исследования. В электронной микроскопии различают прямые и косвешые методы исследования. К прямым методам исследования относятся светлопольный и темнопольный способы, применяемые при исследовании веществ, которые можно получить в виде мелких частиц или топких слоев порядка 10 мм. При работе по светлопольному методу часть электронов в виде луча, беспрепятственно дошедше до экрана, образуют на нем св( тлый фон, который окаймляет темные места, отвечающие частица Л исследуемого образца. [c.105]

В поликристаллических слоях темнопольпый метод позволяет наблюдать отдельные кристаллы. Стоянова [22] изучала тонкие слои сурьмы, нанесенные испарением на коллодиевую подложку при среднем содержании вещества 0,5 х,г см . На светлопольных микрофотографиях были видны частицы размером 150 A, на электронограмме были получены диффузные [c.214]

Первоначально основным аргументом в пользу представления об упорядоченности аморфных полимеров служили результаты светлопольных электронно-микроскопических исследований морфологических структур, которые получали выпариванием растворителя из раствора или непосредственно в блоке. На основании анализа полученных таким образом электронных микрофотографий был сделан вывод, что основными морфологическими формами надмолекулярной организации некрпсталлизующихся полимеров в блоке являются глобулы и фибриллы. Глобулярные образования в виде зерен диаметром 5—10 нм, внутри которых, судя по данным темнопольной электронной микроскопии, реализуется упорядоченность паракристаллического типа во взаимном расположении макромолекул, были обнаружены не только в некристаллизующихся полимерах (атактический полистирол), но и аморфизованных кристаллизующихся полимерах (полиэтилентерефталат, поликарбонат) ниже температуры стеклования. Следует, однако, иметь в виду, что корректные выводы относительно характера межмолекулярной организации в аморфных системах могут быть сделаны лищь при условии контроля морфологических данных дифракционными методами. Особенно ценные сведения для этих целей дают измерения интенсивности рассеяния в области малых углов, в которой форма кривой рассеяния почти полностью определяется межмолекулярной интерференцией. [c.39]

Рис. 3. Схема формирования светлопольного и темнопольного изображения (А В ) от участка образца (АВ) в методе просвечивающей элеетронной микроскопии 1 — образец в параллельном пучке электронов, 2 — объектная линза, 3 — плоскость обратного фокуса, 4 — плоскость изображения, 5 — апертура

Справочник химика 21

Химия и химическая технология